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张华

作品数:1 被引量:0H指数:0
供职机构:昆明理工大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:一般工业技术更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇电导
  • 1篇电导率
  • 1篇英文
  • 1篇溶胶
  • 1篇溶胶-凝胶
  • 1篇柱状晶
  • 1篇离子
  • 1篇离子电导率
  • 1篇晶界
  • 1篇晶界扩散

机构

  • 1篇昆明理工大学

作者

  • 1篇孟彬
  • 1篇孔明
  • 1篇杨青青
  • 1篇朱延俊
  • 1篇张华

传媒

  • 1篇稀有金属材料...

年份

  • 1篇2016
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
溶胶-凝胶层晶界扩散对柱状晶YSZ涂层电导行为的影响(英文)
2016年
借助晶界调控和修饰可以提高和改善氧离子导体YSZ的电导率。本文采用射频磁控溅射工艺在单晶Al2O3(0001)衬底上制备了厚度约为2μm具有柱状晶结构特征的氧化钇稳定氧化锆(YSZ)涂层,利用溶胶涂覆工艺在涂层表面涂覆含Fe、Co、Si等元素的扩散源,在一定温度下进行热扩散处理使上述离子沿晶界扩散,研究不同离子的引入对YSZ涂层电导率的影响。溶胶前驱体粉末的TG-DSC分析确定了涂覆处理后的热扩散处理工艺,采用XRD、SEM以及TEM对涂层以及溶胶的形貌、结构和物相进行了测试,采用直流四探针法和交流阻抗谱法对涂层热扩散处理前后的电导率进行了测试。结果表明制备态以及溶胶扩散后的YSZ涂层均具有立方萤石型结构,晶粒大小在50~100nm之间。电导率测试结果表明单独引入Si4+的样品电导率相比于制备态降低了3倍,在此基础上再引入Fe^(3+)的样品电导率相比于制备态提高了3倍,单独引入Co2+的样品电导率变化不大。Fe溶胶扩散后YSZ涂层电导率提高的原因可推断为Fe2O3对晶界处SiO_2的清除作用。
孔明孟彬张华林作亮朱延俊杨青青
关键词:晶界扩散离子电导率
共1页<1>
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