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贾春燕

作品数：11 被引量：5H指数：1
供职机构：北京大学物理学院更多>>
相关领域：理学轻工技术与工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇专利
  • 3篇期刊文章

领域

  • 3篇理学
  • 1篇轻工技术与工...

主题

  • 5篇测试仪
  • 3篇电镜
  • 3篇电子束曝光
  • 3篇电阻
  • 3篇对比度
  • 3篇影像
  • 3篇影像扫描
  • 3篇射电
  • 3篇势垒
  • 3篇特性参数
  • 3篇特性测试仪
  • 3篇透射电镜
  • 3篇图像
  • 3篇图像对比度
  • 3篇消光
  • 3篇肖特基
  • 3篇肖特基二极管
  • 3篇二极管
  • 3篇斑图
  • 3篇变温

机构

  • 11篇北京大学

作者

  • 11篇贾春燕
  • 11篇冉书能
  • 6篇刘国超
  • 3篇蒋莹莹
  • 3篇孙鼎
  • 3篇荀坤
  • 3篇周路群
  • 3篇张焱
  • 3篇陈晶
  • 3篇邢启江
  • 3篇李增杰
  • 2篇吴思诚
  • 1篇李科
  • 1篇宋建邦

传媒

  • 3篇物理实验

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 3篇2013
  • 2篇2012
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 2篇2009
共 11 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法
本发明公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法。本发明的透射电镜成像扫描系统包括：透射电镜及扫描装置；其中，透射电镜中采用IP成像板，透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像；扫描装置对已曝光的IP...
张焱贾春燕陈晶冉书能刘国超李增杰
文献传递
非线性热对流斑图实验
2012年
搭建了非线性热对流斑图实验装置,在对流水层上下表面形成稳定的温度差,并通过改变温度差实现了远离平衡态的开放系统从无序到有序的自组织转变过程.利用阴影法对对流斑图的发生、发展和演化的过程进行了可视化观察.
周路群冉书能贾春燕
一种热对流斑图测试仪及其测量方法
本发明公开了一种热对流斑图测试仪及其测量方法。本发明的测试仪包括：样品腔；在样品腔的上表面安装制冷系统；在样品腔的下表面安装加热系统；以及用来观测热对流斑图的光学观测系统。本发明在冷却板和加热板之间，通过胶圈密封，内部通...
贾春燕冉书能周路群
文献传递
变温肖特基二极管特性测试仪
本发明提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪，属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统，变温系统用于改变肖特基二极管的温度，测得温差电动势信号；数据采集系统用于对肖特基二极管样...
贾春燕刘国超冉书能孙鼎蒋莹莹荀坤邢启江
文献传递
变温肖特基二极管特性测试仪
本实用新型提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪，属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统，变温系统用于改变肖特基二极管的温度，测得温差电动势信号；数据采集系统用于对肖特基二极...
贾春燕刘国超冉书能孙鼎蒋莹莹荀坤邢启江
文献传递
基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法
本发明公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法。本发明的透射电镜成像扫描系统包括：透射电镜及扫描装置；其中，透射电镜中采用IP成像板，透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像；扫描装置对已曝光的IP...
张焱贾春燕陈晶冉书能刘国超李增杰
文献传递
一种热对流斑图测试仪及其测量方法
本发明公开了一种热对流斑图测试仪及其测量方法。本发明的测试仪包括：样品腔；在样品腔的上表面安装制冷系统；在样品腔的下表面安装加热系统；以及用来观测热对流斑图的光学观测系统。本发明在冷却板和加热板之间，通过胶圈密封，内部通...
贾春燕冉书能周路群
用氦制冷机测量纯铜低温热导率被引量：4
2009年
在纯铜低温热导率测量实验中原有实验装置利用液氮充当冷源,只能测量78 K到室温的纯铜的热导率.新的装置改用氦制冷机,其测温范围的低温端可延伸至9 K.测量结果的不确定度为3%.
李科冉书能贾春燕宋建邦吴思诚
关键词：低温热导率制冷机纯铜
一种基于IP成像板的透射电镜成像及扫描系统
本实用新型公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像及扫描系统。本实用新型的透射电镜成像及扫描系统包括：透射电镜及扫描装置；其中，透射电镜中采用IP成像板，透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像；扫描装置对已曝光的IP...
张焱贾春燕陈晶冉书能刘国超李增杰
文献传递
硅漂移探测器用于X射线标识谱与吸收实验被引量：1
2016年
利用硅漂移探测器测量不同元素的标识X射线,验证莫塞莱定律,计算屏蔽系数并解释其变化规律.利用不同厚度的镍吸收片做铜的标识X射线吸收,结果表明:单色化铜的标识X射线所需镍片的最佳厚度约为20μm.
冉书能贾春燕吴思诚
关键词：能量分辨率
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共2页<12>
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