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领域

  • 1篇电子电信

主题

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机构

  • 2篇中国电子科技...

作者

  • 2篇桂江华
  • 2篇申柏泉
  • 2篇钱黎明
  • 1篇陆锋
  • 1篇与宗光
  • 1篇刘刚
  • 1篇周毅
  • 1篇魏敬和
  • 1篇郑清

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
SOC中的MBIST设计被引量:2
2011年
随着超大规模集成电路的发展,设计的集成度越来越高,基于IP的SOC设计正在成为IC设计的主流。为了确保SOC的功能正确,可测性设计(Design for Test,简称DFT)显得尤为关键。DFT设计包括扫描设计、JTAG设计和BIST设计。另外,当前SOC芯片中集成了大量的存储器,为了确保存储器没有故障,基于存储器的内建自测试显得很有必要。文章主要阐述如何用ARM JTAG来控制MBIST,这样既能节约硬件开销又能达到DFT设计的目的。
桂江华钱黎明申柏泉周毅
关键词:SOCJTAG内建自测试
一种用于波束控制的集成电路
本实用新型涉及一种用于波束控制的集成电路,包括一个中央处理器通过AMBA总线模块连接时钟及复位和功耗管理模块、只读存储器模块、随机存储器模块、异步串行口模块、通用接口模块、中断控制模块、定时器及看门狗模块;波束控制及运算...
魏敬和郑清陆锋与宗光刘刚申柏泉钱黎明桂江华
文献传递
共1页<1>
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