2025年3月10日
星期一
|
欢迎来到青海省图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
申柏泉
作品数:
2
被引量:2
H指数:1
供职机构:
中国电子科技集团第五十八研究所
更多>>
相关领域:
电子电信
更多>>
合作作者
钱黎明
中国电子科技集团第五十八研究所
桂江华
中国电子科技集团第五十八研究所
周毅
中国电子科技集团第五十八研究所
郑清
中国电子科技集团第五十八研究所
魏敬和
中国电子科技集团第五十八研究所
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
1篇
期刊文章
1篇
专利
领域
1篇
电子电信
主题
1篇
电路
1篇
异步串行
1篇
异步串行口
1篇
自测试
1篇
总线
1篇
总线模块
1篇
内建自测试
1篇
集成电路
1篇
功耗
1篇
功耗管理
1篇
SOC
1篇
JTAG
1篇
波控
1篇
波束
1篇
波束控制
1篇
串行
1篇
串行口
机构
2篇
中国电子科技...
作者
2篇
桂江华
2篇
申柏泉
2篇
钱黎明
1篇
陆锋
1篇
与宗光
1篇
刘刚
1篇
周毅
1篇
魏敬和
1篇
郑清
传媒
1篇
电子与封装
年份
1篇
2011
1篇
2010
共
2
条 记 录,以下是 1-2
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
SOC中的MBIST设计
被引量:2
2011年
随着超大规模集成电路的发展,设计的集成度越来越高,基于IP的SOC设计正在成为IC设计的主流。为了确保SOC的功能正确,可测性设计(Design for Test,简称DFT)显得尤为关键。DFT设计包括扫描设计、JTAG设计和BIST设计。另外,当前SOC芯片中集成了大量的存储器,为了确保存储器没有故障,基于存储器的内建自测试显得很有必要。文章主要阐述如何用ARM JTAG来控制MBIST,这样既能节约硬件开销又能达到DFT设计的目的。
桂江华
钱黎明
申柏泉
周毅
关键词:
SOC
JTAG
内建自测试
一种用于波束控制的集成电路
本实用新型涉及一种用于波束控制的集成电路,包括一个中央处理器通过AMBA总线模块连接时钟及复位和功耗管理模块、只读存储器模块、随机存储器模块、异步串行口模块、通用接口模块、中断控制模块、定时器及看门狗模块;波束控制及运算...
魏敬和
郑清
陆锋
与宗光
刘刚
申柏泉
钱黎明
桂江华
文献传递
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张