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梁爽

作品数：8 被引量：9H指数：1
供职机构：中国科学院上海微系统与信息技术研究所更多>>
发文基金：上海市科学技术委员会资助项目中国科学院科研项目国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇专利
  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 8篇相变存储
  • 8篇相变存储器
  • 8篇存储器
  • 5篇脉冲信号
  • 5篇测试系统
  • 4篇信号发生器
  • 4篇脉冲信号发生...
  • 4篇接口
  • 4篇发生器
  • 2篇电极接触
  • 2篇电路
  • 2篇读出电路
  • 2篇信号
  • 2篇信号源
  • 2篇数字信号
  • 2篇数字信号源
  • 2篇通用接口
  • 2篇通用接口总线
  • 2篇自动化
  • 2篇总线

机构

  • 8篇中国科学院
  • 1篇中国科学院研...

作者

  • 8篇梁爽
  • 7篇宋志棠
  • 7篇封松林
  • 7篇刘波
  • 6篇陈小刚

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇微计算机信息
  • 1篇计算机测量与...

年份

  • 2篇2013
  • 1篇2008
  • 3篇2007
  • 2篇2006
共 8 条 记 录，以下是 1-8
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排序方式：
相变存储器器件单元测试系统被引量：8
2006年
通过计算机控制脉冲信号发生器和数字信号源等硬件设备,实现对硫系化合物随机存储器(C-RAM)器件性能的测试。该系统主要有电流与电压关系测试、电压与电流关系测试、电阻与所加的脉冲信号关系的测试和疲劳特性测试等模块组成。通过这些测试从而找出写脉冲信号与擦脉冲信号的高度和宽度的最佳参数、C-RAM器件的阈值电压、循环寿命等重要参数。此系统不仅为研究C-RAM器件的速度、功耗、可靠性等提供了一个途径,又为C-RAM的工艺和结构参数的研究提供了试验平台。
梁爽宋志棠刘波陈小刚封松林
关键词：远程控制测试系统相变
相变存储器电学性能测试系统与存储性能演示系统研究
梁爽
关键词：相变存储器自动化测试VC++6.0LABVIEW
相变存储器器件单元测试系统及测试方法
本发明涉及一种相变存储器器件单元的测试系统及测试方法，其特征在于所述的测试系统是由控制计算机、脉冲信号发生器、数字信号源、微控探针台和转换连接部件组成；其中，通过通用接口总线使主控计算机与脉冲信号发生器和数字信号源相连；...
宋志棠刘波梁爽陈小刚封松林
文献传递
相变存储器器件单元测试系统及测试方法
本发明涉及一种相变存储器器件单元的测试系统及测试方法，其特征在于所述的测试系统是由控制计算机、脉冲信号发生器、数字信号源、微控探针台和转换连接部件组成；其中，通过通用接口总线使主控计算机与脉冲信号发生器和数字信号源相连；...
宋志棠刘波梁爽陈小刚封松林
文献传递
相变存储器器件单元阵列演示系统及可视化演示的方法
本发明涉及相变存储器器件单元阵列演示系统及可视化演示的方法，其特征在于所述的演示系统由控制计算机、脉冲信号发生器、控制电路板、相变存储器存储阵列芯片及转换连接部件构成，其中所述的电路板是由控制电路、选址电路、切换电路、读...
宋志棠刘波梁爽陈小刚封松林
文献传递
相变存储器器件单元阵列演示系统及可视化演示的方法
本发明涉及相变存储器器件单元阵列演示系统及可视化演示的方法，其特征在于所述的演示系统由控制计算机、脉冲信号发生器、控制电路板、相变存储器存储阵列芯片及转换连接部件构成，其中所述的电路板是由控制电路、选址电路、切换电路、读...
宋志棠刘波梁爽陈小刚封松林
文献传递
相变存储器单元阵列的自动化演示系统
2007年
计算机通过GPIB卡和串口分别控制脉冲信号发生器和单片机实现对C-RAM(Chalcogenide-Random Access Memory)存储阵列芯片的数据存储、数据读取和简单的数据运算的直观演示。本文重点介绍了其硬件构成、软件实现。
梁爽宋志棠刘波封松林
关键词：GPIB
相变存储器测试系统中的脉冲信号的改善被引量：1
2007年
相变存储器测试系统由于PCI控制卡中的总线信号之间的串扰,严重影响了施加在器件单元上的波形;以保证对C-RAM(Chalcogenide-Random Access Memory)进行非晶化操作时脉冲信号下降沿的速度和整个信号的完整性,针对以上问题分别从串口与单片机通信控制继电器和利用PCI控制卡控制继电器两个方面提出了解决方案,并进行了相应的硬件电路和软件设计;结果发现非晶化操作时脉冲信号下降速度加快,并且消除了信号的失真;改善后的测试系统对器件一致性的参数的提取发挥了重要作用,为芯片的电路设计奠定了基础。
梁爽宋志棠刘波陈小刚封松林
关键词：相变存储器测试系统PCI控制卡
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