代天君
- 作品数：5 被引量：13H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
- 发文基金：模拟集成电路重点实验室基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 不连续导电模式低压输入/高压输出的开关倍压整流电路
- 本发明公开了一种不连续导电模式低压输入/高压输出的开关倍压电源电路，它包括PWM电能变换电路和倍压整流滤波电路。由于本发明电路的变压器工作在DCM模式，在相同电压变换比例条件下，其耦合变压器的匝数比大幅减小，有效地解决了...
- 章治国余海生尹华程铭代天君
- 文献传递
- 基于电容钳位的FB-ZVZCS变换器的小信号建模
- 2019年
- 提出了一种在二次侧增加电容钳位电路以简化全桥零电压零电流开关(FB-ZVZCS)变换器设计的方法。基于普通移相全桥的模型基础上,推导了该拓扑的小信号模型,最后给出了仿真波形和试验波形,验证了该方法的正确性。
- 鄢毅之卢翔代天君
- 关键词：移相全桥变换器小信号模型
- 不连续导电模式低压输入/高压输出的开关倍压整流电路
- 本发明公开了一种不连续导电模式低压输入/高压输出的开关倍压电源电路，它包括PWM电能变换电路和倍压整流滤波电路。由于本发明电路的变压器工作在DCM模式，在相同电压变换比例条件下，其耦合变压器的匝数比大幅减小，有效地解决了...
- 章治国余海生尹华程铭代天君
- 半导体器件贮存可靠性快速评价方法被引量：4
- 2015年
- 为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法。在此基础上,以某款中频对数放大电路为研究对象,通过对加速寿命试验结果的分析,获得了电路在规定贮存时间下的可靠度。
- 罗俊代天君刘华辉杨勇张振宇杨少华
- 关键词：半导体器件加速寿命试验
- 基于加速退化试验的模拟IC寿命评估研究被引量：9
- 2014年
- 为解决高可靠性、长寿命模拟集成电路的寿命评估问题,结合半导体器件退化失效的特点,提出了基于加速退化试验的模拟集成电路寿命评估方法。在此基础上,以某型电压基准模拟IC为研究对象,通过对退化数据的分析研究,获得了其在正常工作应力下的寿命数据。
- 罗俊王健安郝跃代天君晏开华李金龙黄姣英
- 关键词：半导体器件加速退化试验可靠性
