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郑积斐

作品数:4 被引量:5H指数:1
供职机构:中国航空综合技术研究所更多>>
相关领域:电子电信理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇专利

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 3篇晶体管
  • 3篇绝缘栅
  • 2篇双极型
  • 2篇双极型晶体管
  • 2篇退化数据
  • 2篇万用表
  • 2篇绝缘栅双极型...
  • 2篇饱和电压
  • 2篇IGBT
  • 2篇程控
  • 2篇程控数字
  • 1篇短路
  • 1篇双极晶体管
  • 1篇前端
  • 1篇前端设计
  • 1篇脉冲
  • 1篇绝缘栅双极晶...
  • 1篇故障预测
  • 1篇LABVIE...

机构

  • 4篇中国航空综合...

作者

  • 4篇杜熠
  • 4篇李璠
  • 4篇曾照洋
  • 4篇郑积斐
  • 2篇刘萌萌

传媒

  • 1篇电力电子技术
  • 1篇测控技术

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2013
  • 2篇2012
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
一种绝缘栅双极型晶体管性能退化试验方法
本发明属于测试技术领域,涉及一种绝缘栅双极型晶体管性能退化试验方法。该方法以绝缘栅双极型晶体管为对象,利用程控脉冲发生器、程控电子开关、程控数字万用表、功率电阻、工作电阻和直流电源,通过短路电流冲击,得到不同短路电流值下...
李璠曾照洋郑积斐杜熠刘萌萌
文献传递
基于加速性能退化试验的IGBT故障预测前端设计
2012年
故障预测与健康管理(PHM)技术能够实现故障监测、诊断、预测、状态评估及综合决策的功能,能够降低飞行器维修、使用和保障费用,提高飞行器战备完好率、任务成功率以及安全性和可用性。针对航空电子单元故障预测具体实现这一问题,选择航空飞行器中常用的IGBT作为试验对象,采用加速性能退化技术,基于PXI的测控平台,研究IGBT故障预测试验加速性能退化试验技术,分析性能退化曲线,为IGBT加速寿命试验的实现奠定基础。
郑积斐李璠曾照洋杜熠
关键词:故障预测LABVIEW
IGBT性能退化模型构建方法研究被引量:5
2013年
绝缘栅双极晶体管(IGBT)经常工作在过热、过流、过压、高频等条件下,所以当其使用时间积累到一定程度时,极有可能发生性能退化,而IGBT性能退化所引发的设备故障往往会带来巨大的损失。对此,就IGBT的性能退化问题展开相关讨论和研究。首先从理论上分析了IGBT性能退化的原因和机理,然后结合PXI实验平台和相关驱动电路,对GT5J301型IGBT进行了性能退化加速实验,分析了反复短路脉冲应力冲击对其造成的影响,最后根据实验结果建立性能退化数学模型,对实验结果进行曲线拟合,得出性能退化的规律。
杜熠李璠曾照洋郑积斐
关键词:绝缘栅双极晶体管
一种绝缘栅双极型晶体管性能退化试验方法
本发明属于测试技术领域,涉及一种绝缘栅双极型晶体管性能退化试验方法。该方法以绝缘栅双极型晶体管为对象,利用程控脉冲发生器、程控电子开关、程控数字万用表、功率电阻、工作电阻和直流电源,通过短路电流冲击,得到不同短路电流值下...
李璠曾照洋郑积斐杜熠刘萌萌
文献传递
共1页<1>
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