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钟强龙

作品数：25 被引量：1H指数：1
供职机构：华中科技大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域：自动化与计算机技术理学一般工业技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 23篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 12篇图像
  • 7篇天线
  • 7篇RFID天线
  • 6篇粒子图像测速
  • 6篇基板
  • 4篇自适
  • 4篇自适应
  • 4篇自适应调整
  • 4篇芯片
  • 4篇流场
  • 4篇毛刺
  • 3篇音速
  • 3篇时间分辨率
  • 3篇视觉检测
  • 3篇空间分辨率
  • 3篇激光
  • 3篇分辨率
  • 3篇高超音速
  • 3篇超音速
  • 2篇电阻

机构

  • 25篇华中科技大学

作者

  • 25篇钟强龙
  • 21篇尹周平
  • 15篇陈建魁
  • 15篇张步阳
  • 9篇梅爽
  • 9篇杨华
  • 8篇杨航
  • 7篇熊有伦
  • 7篇李勇
  • 6篇谢俊
  • 4篇李宏举
  • 4篇陈伟
  • 4篇温雯
  • 4篇王峥荣
  • 2篇张前
  • 2篇于明浩
  • 2篇布宁斌
  • 2篇蔡伟林
  • 2篇陶波
  • 2篇唐伟

传媒

  • 1篇现代电子技术

年份

  • 3篇2017
  • 2篇2016
  • 5篇2015
  • 7篇2014
  • 7篇2013
  • 1篇2012
共 25 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
测量芯片与基板相对倾角测量方法及系统
本发明公开了一种测量平面角度方法、芯片与基板相对倾角测量方法及系统，芯片和基板相对倾角的测量方法包括步骤S21采用标定的方式获得第一基准平面与第二基准平面之间的角度误差；S22根据测量平面角度的方法并结合第一高度传感器测...
尹周平张步阳陈建魁钟强龙谢俊王峥荣李宏举陈伟
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一种用于高密度芯片的倒装键合平台
本发明公开了一种用于高密度芯片的倒装键合平台，包括基座、芯片剥离和翻转单元、XY向运动单元、多自由度键合头和贴装台单元，其中芯片剥离和翻转单元用于将晶圆盘上的芯片分别执行剥离和翻转，并将其送至待拾取位置；多自由度键合头以...
陈建魁李宏举尹周平蔡伟林钟强龙孙湘成陈伟张步阳谢俊马亮吴沛然温雯杨航张前于明浩王冠史明辉
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一种基于机器视觉的光栅立体图像平板打印机及方法
本发明公开了一种基于机器视觉的光栅立体图像平板打印机，用于实现光栅板基体上的立体打印，该打印机包括打印系统、视觉测量系统和纠偏处理系统，其中，所述视觉测量系统用于获得打印系统上的光栅板图像以检测其位置和角度，所述纠偏处理...
陈建魁尹周平唐伟温雯梅爽布宁斌钟强龙张步阳
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测量平面角度方法、芯片与基板相对倾角测量方法及系统
本发明公开了一种测量平面角度方法、芯片与基板相对倾角测量方法及系统，芯片和基板相对倾角的测量方法包括步骤S21采用标定的方式获得第一基准平面与第二基准平面之间的角度误差；S22根据测量平面角度的方法并结合第一高度传感器测...
尹周平张步阳陈建魁钟强龙谢俊王峥荣李宏举陈伟
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一种用于高密度芯片的倒装键合平台
本发明公开了一种用于高密度芯片的倒装键合平台，包括基座、芯片剥离和翻转单元、XY向运动单元、多自由度键合头和贴装台单元，其中芯片剥离和翻转单元用于将晶圆盘上的芯片分别执行剥离和翻转，并将其送至待拾取位置；多自由度键合头以...
陈建魁李宏举尹周平蔡伟林钟强龙孙湘成陈伟张步阳谢俊马亮吴沛然温雯杨航张前于明浩王冠史明辉
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一种流场实时精确测量系统
本实用新型提供一种流场实时精确测量系统，包括示踪粒子发生器，用于产生示踪粒子并释放到待测流场；图像处理子系统，包括激光发射单元和图像采集单元，用于照亮示踪粒子并且采集示踪粒子图像；PIV测量子系统，用于接收示踪粒子图像数...
杨华尹周平熊有伦梅爽钟强龙张步阳李勇
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一种时间分辨率自适应调整的流场状态测量方法
本发明公开了一种时间分辨率自适应调整的流场状态测量方法，该方法包括如下步骤：首先，根据第k+1时刻图像与第k时刻图像之间的时间间隔Δt<Sub>k</Sub>，采集第k+1时刻图像，并对第k时刻和第k+1时刻的图像进行降...
杨华尹周平钟强龙梅爽张冰
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一种流场实时精确测量系统及方法
本发明提供一种流场实时精确测量系统及方法。系统，包括示踪粒子发生器、图像处理子系统和PIV测量子系统，示踪粒子发生器设置在待测流场上游，图像处理子系统采集流场中示踪粒子图像，传递给PIV测量子系统。方法，根据前一次测量，...
杨华尹周平熊有伦梅爽钟强龙张步阳李勇
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一种RFID天线检测设备及其应用
本发明提供一种天线检测设备，用于对RFID天线进行检测，包括：开卷装置、收卷装置和依次布置在两者之间的静夹持组件、真空吸附组件、外观检测装置、电阻检测装置和动夹持组件，开卷装置开卷的天线基板通过动夹持组件输送到检测处，动...
陈建魁尹周平尹庆吉苏刚周春雷钟强龙杨航吉羽
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一种RFID天线的外观缺陷检测系统及其方法
本发明公开了一种用于RFID天线的外观缺陷检测方法，包括：摄像装置的预标定步骤；将摄像装置移动至所需位置，并通过与条形光源或背光光源之间的配合，对待检测的天线拍摄其图像；采集所拍摄的图像并对其执行边缘检测，由此获得检测图...
尹周平陈建魁钟强龙杨航
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