王怡飞
- 作品数：4 被引量：12H指数：2
- 供职机构：中国科学技术大学信息科学技术学院电子科学与技术系更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- CMOS片上ESD保护电路设计研究
- 随着半导体制造工艺的飞速进步,集成电路工艺的不断更新换代,特征尺寸沿着摩尔定律不断缩小,各种微电子器件的集成度大为提高,随之而来的就是芯片可靠性方面的问题。在集成电路的可靠性设计中,其中最常见也是首先要考虑的便是静电放电...
- 王怡飞
- 关键词：CMOS集成电路静电放电保护电路
- 文献传递
- 一种20M低相位噪声晶体振荡器的设计被引量：1
- 2011年
- 设计了一种20M低相位噪声晶体振荡器。通过对振荡原理的分析,选取了Santos结构的振荡器进行设计。该晶体振荡器由主振荡电路、振幅控制电路两部分组成,用标准的0.18μm CMOS工艺实现,并通过Cadence平台下的软件进行仿真。结果表明,所设计的晶体振荡器的相位噪声在偏离中心频率1kHz、10kHz、1MHz处的相位噪声分别为:-121dBc/Hz、-145dBc/Hz、-165dBc/Hz,性能比较理想,可以满足射频芯片对晶体振荡器高相位噪声性能的需要。
- 钱丰傅忠谦王怡飞
- 关键词：CMOS工艺晶体振荡器低相位噪声
- 一种CMOS IC片上电源ESD保护电路被引量：2
- 2008年
- 随着集成电路工艺的高速发展,特征尺寸越来越小,静电放电对CMOS器件可靠性的危害也日益增大,ESD保护电路设计已经成为IC设计中的一个重要部分。讨论了两种常见的CMOS集成电路电源系统ESD保护电路,分析了它们的电路结构、工作原理和存在的问题,进而提出了一种改进的电源动态侦测ESD保护电路。使用HSPICE仿真验证了该电路工作的正确性,并且在一款自主芯片中使用,ESD测试通过±3 000 V。
- 王怡飞白雪飞郭立
- 关键词：CMOS静电放电保护电路电源系统
- CMOS片上电源总线ESD保护结构设计被引量：4
- 2008年
- 随着集成电路制造技术的高速发展,特征尺寸越来越小,静电放电对器件可靠性的危害也日益增大,ESD保护电路设计已经成为IC设计中的一个重要部分。讨论了三种常见的CMOS集成电路电源总线ESD保护结构,分析了其电路结构、工作原理和存在的问题,进而提出了一种改进的ESD保护电源总线拓扑结构。运用HSPICE仿真验证了该结构的正确性,并在一款自主芯片中实际使用,ESD测试通过±3 000 V。
- 王怡飞胡新伟郭立
- 关键词：静电放电保护电路
