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李求洋

作品数:5 被引量:15H指数:2
供职机构:哈尔滨工业大学更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇学位论文
  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇电阻
  • 2篇实验环境
  • 2篇阈值电压
  • 2篇跨导
  • 2篇沟道
  • 2篇沟道电阻
  • 2篇分析技术
  • 1篇电能
  • 1篇电能表
  • 1篇电能表计
  • 1篇电能表计量
  • 1篇电子系统
  • 1篇序贯
  • 1篇有限元
  • 1篇有限元模型
  • 1篇整数规划
  • 1篇设计方法
  • 1篇失效模式
  • 1篇离散变量
  • 1篇可靠性

机构

  • 5篇哈尔滨工业大...

作者

  • 5篇李求洋
  • 2篇蒙航
  • 2篇谭榕容
  • 2篇苏博男
  • 2篇叶雪荣
  • 2篇周月阁
  • 2篇翟国富
  • 2篇胡汇达
  • 2篇薛升俊
  • 2篇韩笑
  • 2篇陈世杰
  • 2篇邵雪瑾
  • 2篇马跃
  • 2篇李岱霖
  • 2篇李享
  • 1篇王淑娟

传媒

  • 1篇电力自动化设...

年份

  • 1篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2013
  • 2篇2012
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
一种MOSFET可靠性测试分析系统的MOSFET静态参数测试方法
一种MOSFET可靠性测试分析系统的MOSFET静态参数测试方法,属于测量及分析技术领域。为了解决过去没有采用在模拟恶劣环境下进行加速退化寿命试验来实时连续检测MOSFET可靠性的方法。MOSFET可靠性测试分析系统包括...
翟国富陈世杰叶雪荣韩笑李求洋李岱霖胡汇达苏博男蒙航薛升俊马跃谭榕容邵雪瑾李享周月阁
文献传递
基于不确定性的电子系统稳健优化设计方法研究
电子系统由电子元器件或部件组成,系统结构和功能日趋复杂化和多元化。生产和使用过程中的不确定性因素引起电子系统性能偏离目标值,甚至导致其失效。在设计阶段全面考虑不确定性因素的影响,采用稳健优化设计方法提高电子系统质量是亟待...
李求洋
关键词:不确定性离散变量
文献传递
一种MOSFET可靠性测试分析系统及方法
一种MOSFET可靠性测试分析系统及方法,属于测量及分析技术领域。为了解决过去没有采用在模拟恶劣环境下进行加速退化寿命试验来实时连续检测MOSFET可靠性的方法。MOSFET可靠性测试分析系统包括:MOSFET退化实验环...
翟国富陈世杰叶雪荣韩笑李求洋李岱霖胡汇达苏博男蒙航薛升俊马跃谭榕容邵雪瑾李享周月阁
功率MOSFET可靠性建模的研究
功率MOSFET以其驱动电路简单、开关速度快、便于集成等特点,在电源、汽车、航空航天等电子系统中得到广泛应用。随着元器件工艺的不断改进,产品的研发周期不断减小,功率MOSFET的可靠性正承受着巨大考验。传统的分立器件可靠...
李求洋
关键词:功率MOSFET可靠性有限元模型失效模式
文献传递
基于分支定界法的电能表计量电路容差设计方法被引量:12
2016年
结合单相智能电能表计量电能准确度要求高的特点,建立描述批次单相智能电能表基本误差一致性的模型,提出相应的容差设计优化目标及约束条件。利用整数规划思想,提出一种面向离散型设计变量的容差设计方法。在此基础上,以加工成本作为优化目标、计量误差的变化范围作为约束条件,对某型号单相智能电能表的计量电路进行容差设计优化。通过设置不同的误差变化范围界限值,获得相应的元器件公差等级和成本值。优化结果表明,所提方法在控制误差变化范围的同时,有效地将成本最小化,适用于单相智能电能表计量电路的容差设计。
李求洋李新王淑娟
关键词:整数规划分支定界算法
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