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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇TFT
  • 2篇GZO
  • 2篇A-I
  • 1篇印刷型
  • 1篇碳纳米管
  • 1篇纳米
  • 1篇纳米管
  • 1篇晶体管
  • 1篇光刻
  • 1篇光刻胶
  • 1篇后处理
  • 1篇薄膜晶体
  • 1篇薄膜晶体管
  • 1篇保护层
  • 1篇SU-8
  • 1篇IGZO
  • 1篇场致发射

机构

  • 3篇中山大学
  • 2篇东莞彩显有机...
  • 2篇东莞有机发光...

作者

  • 3篇张耿
  • 1篇许宁生
  • 1篇陈军
  • 1篇邓少芝
  • 1篇段春艳
  • 1篇陈文礼

传媒

  • 3篇电子器件

年份

  • 2篇2012
  • 1篇2008
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
不同溅射气体对a-IGZO TFT特性的影响被引量:1
2012年
采用脉冲直流(Pulsed DC)方式和不同的单组份气体(Ar、O2、N2)溅射制作IGZO,研究了缺氧(Ar)、富氧(O2)、氧替代(N2)三种情形下的IGZO-TFT特性。通过AES、XRD、AFM等分析手段,考察了不同气体制备的IGZO膜以及相应靶材的成分及结构,发现不同的溅射气体对IGZO膜的成分比例和电学结构具有重要的影响。实验结果表明,Ar-IGZO TFT在退火后具有良好的特性,S值为1 V/dec,迁移率可达8.3 cm2/Vs,开关比Ion/Ioff≥105。
张耿王娟向桂华蔡君蕊孙庆华赵伟明
关键词:薄膜晶体管
填充材料与后处理对印刷型碳纳米管冷阴极的影响被引量:1
2008年
采用丝网印刷法制备了由不同填充材料组成的碳纳米管冷阴极,并采用电场处理来改善其场致发射性能。采用扫描电子显微镜对处理前后样品的表面进行表征,结果表明了电场处理会使阴极中的碳纳米管暴露出来。通过优化填充材料并结合阴极的后处理,我们得到了低电压工作下的均匀发射,并实现了在二极结构场发射显示器中的可寻址显示。
张耿陈文礼段春艳陈军邓少芝许宁生
关键词:碳纳米管场致发射后处理
不同光刻胶作保护层对a-IGZO TFT性能的影响被引量:1
2012年
采用脉冲直流溅射的方式沉积IGZO膜层作为底栅结构TFT的有源层,并在背沟道上涂覆不同类型的光刻胶作为保护层,探讨不同保护层对器件电学特性的影响。经考察发现:采用光刻胶作为保护层时,保护层制作后短期内可维持器件的电学特性基本不变;但涂胶后暴露在空气中一定时间后,器件的电学特性开始衰退,尤其是阈值电压变化较明显,器件工作模式由增强型变为耗尽型,并推断光刻胶中溶剂接触到背沟道中IGZO,其化学反应导致沟道中氧脱附,载流子浓度增加。实验还发现:使用SU-8负性光刻胶作为保护层的器件,其电学特性衰退较小,在空气中放置一段时间后表现最稳定。
张耿王娟向桂华蔡君蕊孙庆华赵伟明
关键词:光刻胶保护层SU-8
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