朱剑博
- 作品数：5 被引量：2H指数：1
- 供职机构：合肥师范学院物理与电子工程系更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金安徽省人才开发基金更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术电气工程更多>>
- 退火温度对NZFO铁氧体薄膜磁性能的影响(英文)
- 2010年
- 采用化学溶液沉积法在Si(001)衬底上制备Ni0.7Zn0.3Fe2O4铁氧体薄膜,XRD谱表明样品具有单相的尖晶石结构;扫描电子显微镜结果表明样品平均颗粒尺寸随着退火温度的上升从10 nm增加到32 nm。NZFO铁氧体薄膜磁性能与退火温度有强烈的依赖关系,薄膜的矫顽力从退火温度为500℃时的25 Oe增加到900℃时的80 Oe,饱和磁化强度也由146emu/cm3增加到283 emu/cm3,这对于现代电子器件微型化有着非常重要的意义。
- 訾振发朱剑博
- 关键词：化学溶液沉积法矫顽力
- 创新性近代物理实验教学——AZO薄膜的制备及其表征
- 2009年
- 介绍了创新性近代物理实验sol-gel法制备AZO薄膜的实验原理和不同Al掺杂量ZnO薄膜的制备过程,用X射线衍射仪和紫外-可见分光光度计测试了AZO薄膜的微结构和光学性质。测试结果表明:随着Al掺杂量的增加,AZO薄膜的结晶度提高,吸收边发生蓝移,光学带宽Eg从3.279减小3.216eV。实验教学结果显示:将科研项目开设为创新性学生实验,教学效果良好,激发了学生对实验的学习兴趣,培养了学生的创新意识和综合能力。
- 吕建国孙兆奇朱剑博宋学萍
- 关键词：创新性实验教学近代物理实验AZO薄膜
- Na掺杂ZnO薄膜的表面形貌及其光学性质被引量：1
- 2010年
- 采用溶胶-凝胶技术制备不同Na掺杂ZnO薄膜,用XRD、拉曼光谱仪、AFM、SEM和紫外可见分光光度计等表征方法研究了Na掺杂量对ZnO薄膜的表面形貌和光学性质的影响。XRD和Raman光谱分析表明:8.0 at%Na掺杂ZnO薄膜具有最佳c轴择优取向,内部残余张应力最大;表面形貌研究结果显示:薄膜的平均粒径和粗糙度均随Na含量的增加而增大。薄膜在可见光范围内的平均透射率大于80%,随着Na含量从0增加到10at%,薄膜的光学带宽由3.283 eV增大到3.305 eV。
- 吕建国陈学梅朱剑博黄凯宋学萍孙兆奇
- 关键词：拉曼光谱表面形貌透射谱
- Na掺杂ZnO薄膜光诱导亲水性的转化(英文)
- 2010年
- 采用溶胶-凝胶技术在Si(111)和石英基片上制备8%(摩尔分数)Na掺杂ZnO薄膜。用X射线衍射仪、原子力显微镜、扫描电镜和接触角测试仪测试薄膜的微结构、表面形貌和表面接触角。结果表明:所有薄膜均具有较好的c轴择优取向,表面由近六边形棒状颗粒构成。随着退火温度升高,薄膜表面接触角由95°增大到106°。通过对薄膜交替进行紫外光照和黑暗放置(或热处理),可以实现其表面疏水与超亲水性之间的可逆转化,光诱导可逆转化效率随退火温度升高而增大。
- 吕建国黄凯陈学梅朱剑博孟凡明宋学萍孙兆奇
- 关键词：氧化锌薄膜溶胶-凝胶亲水性
- Na掺杂量对ZnO薄膜AFM图像多重分形谱的影响被引量：1
- 2010年
- 用溶胶-凝胶法在Si(111)基片上制备Na掺杂ZnO薄膜,利用原子力显微镜(AFM)观察薄膜的表面形貌,采用多重分形理论定量表征薄膜的AFM图像。结果显示:随着Na含量的增加,薄膜平均颗粒尺寸逐渐增大,表面RMS粗糙度从7.4 nm增大到44.4 nm,分形谱宽Δα从0.059增大到0.200,说明薄膜表面高度分布不均匀程度逐渐增大;所有样品的Δf值均大于零,表明薄膜表面沉积于最高峰的原子数多于最低谷的原子数。
- 吕建国陈学梅朱剑博黄凯宋学萍孙兆奇
- 关键词：AFM粗糙度
