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魏方巍

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：中国科学院微电子研究所更多>>
发文基金：国家科技重大专项更多>>
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合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇自然科学总论

主题

  • 1篇高可靠
  • 1篇TMR
  • 1篇处理器
  • 1篇LEON3

机构

  • 1篇中国科学院微...

作者

  • 1篇黑勇
  • 1篇刘海南
  • 1篇魏方巍

传媒

  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2012
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于模拟的故障注入技术在高可靠处理器的应用被引量：1
2012年
高可靠处理器在设计过程中,需要在不同阶段采用适当的故障注入技术,对其可靠性进行验证和评估.以LEON3高可靠处理器中的TMR(Triple Module Redundancy)flip-flop为例,使用基于模拟的故障注入技术对高可靠处理器进行故障注入.通过实验表明,采用此类故障注入技术,可以在设计前期对加固设计的可靠性进行快速验证,缩短开发周期,降低验证成本.
魏方巍刘海南黑勇
关键词：LEON3TMR
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