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一种基于存储器故障原语的March测试算法研究被引量：7: 2009年; 研究高效率的系统故障测试算法,建立有效的嵌入式存储器测试方法,对提高芯片良品率、降低芯片生产成本,具有十分重要的意义。从存储器基本故障原语测试出发,在研究MarchLR算法的基础上,提出March LSC新算法。该算法可测试现实的连接性故障,对目前存储器的单一单元故障及耦合故障覆盖率提升到100%。采用March LSC算法,实现了内建自测试电路(MBIST)。仿真实验表明,March LSC算法能很好地测试出嵌入式存储器故障,满足技术要求。研究结果具有重要的应用参考价值。; 石磊王小力; 关键词：MARCH算法存储器

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石磊