张明
- 作品数：1 被引量：1H指数：1
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- 0.35μm CMOS工艺的品质因数时域测量电路被引量：1
- 2017年
- 基于品质因数的时域测量方法,提出了一种新的可以片上集成的品质因数测量电路,不仅在特定频率能实现品质因数的精确测量,还可在保持电路精度的前提下,覆盖一定待测信号的频带.在采用之前提出的可重构电路的基础上,改进了峰值探测器的补偿方式,进行了系统精度和扩频所需的理论分析,有效指导了电路的设计.另外,数字控制逻辑的改进,将总功耗降低7.5%.并通过集成电路的方式在0.35μm CMOS工艺下实现此电路,在电源电压为5V,输入信号频率为1MHz的条件下,实现品质因数的相对误差小于±0.2%,并且在精度不变的情况下,将待测信号的频段扩展到100kHz^1.5MHz.
- 任小娇张明LLASER Nicolas越柏鹤庄奕琪
- 关键词：品质因数时域测量
