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宗扬
作品数:
1
被引量:3
H指数:1
供职机构:
天津大学电子信息工程学院电子科学与技术系
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发文基金:
国家自然科学基金
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相关领域:
电子电信
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合作作者
窦雁巍
天津大学电子信息工程学院电子科...
胡明
天津大学电子信息工程学院电子科...
崔梦
天津大学电子信息工程学院电子科...
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宗扬
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固体电子学研...
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1篇
2006
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显微拉曼光谱法对多孔硅热导率的研究
被引量:3
2006年
多孔硅优良的热学性能使其成为MEMS领域新兴的热绝缘材料。文中采用一种简便且无损的多孔硅热导率测量技术——显微拉曼光谱技术对电化学腐蚀法制备的不同孔隙率和厚度的多孔硅试样热导率进行了测量,结果表明在多孔硅的拉曼谱峰位置与其温度间存在线性对应关系。在所有样品中,厚度为110μm空隙率为65%的多孔硅显示出最好的绝热性能,其热导率为0.624W/mK。且随多孔硅孔隙率和厚度的减小,其热导率有迅速增加的趋势(厚度和孔隙率为9μm和40%时,其热导率升至25.32W/mK)。
崔梦
胡明
窦雁巍
宗扬
关键词:
微电子机械系统
多孔硅
热导率
显微拉曼
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