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胡胜旺

作品数:3 被引量:5H指数:2
供职机构:中国电子科技集团公司第三十二研究所更多>>
相关领域:自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇自动化与计算...

主题

  • 2篇FPGA
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子翻转
  • 1篇逻辑器件
  • 1篇军用
  • 1篇可编程逻辑
  • 1篇可编程逻辑器...
  • 1篇安全性
  • 1篇安全性测试
  • 1篇编程
  • 1篇SEU
  • 1篇FMEA
  • 1篇FTA
  • 1篇LVDS
  • 1篇测试环境
  • 1篇M

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇胡胜旺
  • 3篇郑丹
  • 2篇封亮
  • 1篇何建安
  • 1篇崔红军

传媒

  • 1篇微型机与应用
  • 1篇软件产业与工...
  • 1篇信息技术与网...

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2017
  • 1篇2015
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
SRAM型FPGA SEU缓解与验证技术分析被引量:2
2019年
SRAM型FPGA产品在空间应用中易受单粒子翻转(SEU)影响而产生系统失效。分析了FPGA器件SEU的故障模式,并结合工程实践对三模冗余(TMR)技术、纠错编码(EDAC)技术、配置刷新技术三类FPGA单粒子效应缓解措施和基于故障注入的验证手段进行了研究和比较分析,阐述了不同技术的适用范围和优缺点,给从事空间应用系统的设计和测试人员提供参考。
郑丹胡胜旺封亮崔红军
关键词:FPGA单粒子翻转
M-LVDS总线FPGA软件安全性测试被引量:1
2017年
随着FPGA(现场可编程门阵列)在航空航天、核能、轨道交通等领域中的广泛应用,由FPGA软件设计引起的安全问题日益突出。通过借鉴软件安全性分析方法,结合FTA、FMEA两种安全性分析技术,将这两种分析方法综合应用,对M-LVDS总线FPGA软件进行了安全性分析。采用仿真故障注入方式设计测试用例,对易引发系统高危失效的事件进行充分的安全性分析与测试,有效提高了M-LVDS总线FPGA软件的测试质量,同时为FPGA软件设计中常见的典型接口类应用安全性分析与测试提供了有益的探索和参考。
郑丹胡胜旺封亮
关键词:FPGAFTAFMEA安全性测试
军用可编程逻辑器件测试过程研究被引量:2
2015年
近年来,随着可编程逻辑器件在我国军用武器装备中的广泛应用,针对军用可编程逻辑器件的测试过程和方法亟需研究和规范。本文分析了军用可编程逻辑器件测试现状,结合DO-254标准要求及工程实践,针对可编程逻辑器件设计特点,阐述了适用于军用可编程逻辑器件测试的过程、方法和环境,对军用可编程逻辑器件测试工作的开展具有实际参考价值。
胡胜旺何建安郑丹
关键词:可编程逻辑器件测试环境
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