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翁国锋

作品数：1 被引量：7H指数：1
供职机构：武汉工程大学材料科学与工程学院等离子体化学与新材料湖北省重点实验室更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：核科学技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇核科学技术

主题

  • 1篇电场
  • 1篇电场强度
  • 1篇氢等离子体
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱诊断
  • 1篇发射光谱
  • 1篇发射光谱诊断
  • 1篇场强

机构

  • 1篇武汉工程大学

作者

  • 1篇湛玉龙
  • 1篇马志斌
  • 1篇吴利峰
  • 1篇翁国锋

传媒

  • 1篇强激光与粒子...

年份

  • 1篇2010
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
高气压微波氢等离子体发射光谱诊断被引量：7
2010年
在2.45GHz,800W级的高气压微波等离子体放电系统中,通过测量不同微波功率和放电气压下氢等离子体的Balmer线系的发射光谱,从测量的谱线总展宽中卷积去掉具有高斯线形的Doppler展宽和仪器展宽得到谱线的Stark展宽,并通过Stark展宽测量氢等离子体的电子数密度和电场强度。结果表明:等离子体的电子数密度和电场强度随着放电气压的升高都是先增大后减小,随着微波功率的增加呈现逐渐增大的趋势。微波功率为800W时,气压在25kPa时电子数密度和电场强度都达到最大值,等离子体的电子数密度和内部的电场强度分别为3.55×1012cm-3及4.01kV/cm。
吴利峰马志斌翁国锋湛玉龙
关键词：发射光谱氢等离子体电场强度
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