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孙华义

作品数：1 被引量：5H指数：1
供职机构：华南理工大学微电子研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇嵌入式
  • 1篇嵌入式存储
  • 1篇嵌入式存储器
  • 1篇自测试
  • 1篇内建自测试
  • 1篇故障检测
  • 1篇SOC
  • 1篇MARCH算...
  • 1篇存储器

机构

  • 1篇华南理工大学

作者

  • 1篇吴焯焰
  • 1篇闾晓晨
  • 1篇王颂辉
  • 1篇郑学仁
  • 1篇孙华义

传媒

  • 1篇中国集成电路

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
嵌入式存储器内建自测试的一种新型应用被引量：5
2007年
当今,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于本身单元密度很高,嵌入式存储器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷,成为影响芯片成品率的一个重要因素。本文对采用MARCH-C算法的嵌入式存储器内建自测试进行了改进,实现了对嵌入式存储器故障的检测和定位,能够准确判断故障地址和故障类型,使嵌入式存储器故障修复更加快捷、准确,同时达到故障覆盖率高、测试时间短的目的。
孙华义郑学仁闾晓晨王颂辉吴焯焰
关键词：SOC嵌入式存储器MARCH算法故障检测
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