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周进朝

作品数:10 被引量:38H指数:4
供职机构:华南师范大学物理与电信工程学院更多>>
发文基金:广东省科技计划工业攻关项目国家教育部博士点基金更多>>
相关领域:理学机械工程自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 9篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 7篇理学
  • 6篇机械工程
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 8篇折射率
  • 3篇偏振
  • 3篇偏振光
  • 3篇全反射
  • 3篇厚度
  • 2篇噪声
  • 2篇噪声检测
  • 2篇平面波导
  • 2篇滤波
  • 2篇滤波算法
  • 2篇棱镜
  • 2篇波导
  • 1篇定标
  • 1篇图像
  • 1篇图像去噪
  • 1篇去噪
  • 1篇中值滤波
  • 1篇中值滤波算法
  • 1篇准直
  • 1篇自适

机构

  • 10篇华南师范大学

作者

  • 10篇周进朝
  • 9篇黄佐华
  • 5篇曾宪佑
  • 3篇张勇
  • 2篇王泽斌
  • 2篇余文芳
  • 1篇宋亚杰
  • 1篇赵振堂
  • 1篇陈志青
  • 1篇李华新

传媒

  • 3篇激光与光电子...
  • 2篇光学学报
  • 1篇中国激光
  • 1篇激光技术
  • 1篇计算机工程与...
  • 1篇计算机与现代...

年份

  • 2篇2014
  • 3篇2013
  • 5篇2012
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于偏振光反射多点法测量薄膜参数被引量:2
2012年
依据偏振光反射原理和多角度测量的多点拟合算法,实现了对薄膜材料折射率和厚度的精确测量。将高准直半导体激光入射到薄膜样品与空气分界面上,逐步旋转样品或改变样品表面的入射角,得到待测样品的反射率随入射角变化曲线。在曲线上取不同入射角处所对应的反射率,根据计算公式求解出多组薄膜厚度和折射率。利用已测量的多组反射率与求解出的薄膜参数相应反射率拟合后可确定出薄膜参数最优解。在求出的薄膜参数附近拓展一定范围再次拟合,可求出更精确的薄膜参数。基于此方法测量了SiO2薄膜的折射率和厚度,测量折射率误差不超过0.3%,厚度误差不超过0.07%。
周进朝宋亚杰曾宪佑王泽斌黄佐华
关键词:折射率厚度偏振光
用全反射法测冰醋酸和酒精的折射率被引量:10
2014年
为了研究冰醋酸溶液和酒精溶液的折射率与体积分数的关系,采用全反射的方法测量了不同体积分数的冰醋酸溶液与酒精溶液的折射率,得到了溶液折射率与体积分数的关系曲线。结果表明,冰醋酸水溶液和酒精水溶液的折射率与体积分数均不存在简单的线性关系,而是呈现出类抛物线型的变化关系。开始体积分数随折射率的增大而增大,但在某一中间体积分数处折射率有一最大值,即冰醋酸在体积分数为0.90附近存在最大折射率,酒精在体积分数为0.80附近存在最大折射率。这一结果对于全面认识溶液折射率与体积分数的关系是有帮助的。
余文芳黄佐华周进朝李华新
关键词:物理光学折射率全反射冰醋酸酒精
利用全反射原理精确测量棱镜折射率被引量:3
2013年
依据全反射原理和自准直测角法,实现了对棱镜折射率的精确测量。通过使用高准直半导体激光器将激光入射到棱镜内部与空气分界面上,逐步旋转棱镜或改变棱镜的入射角,得到待测棱镜的反射光强随入射角变化曲线。在曲线左侧收尾处出现一个台阶,其反射光强随入射角增大迅速衰减。全反射临界点,对应的入射角为全反射角。用两次自准直测角法精确测量棱镜底角。通过该方法,分别对两块不同棱镜的折射率进行了测量,测量棱镜折射率精度为±1.24×10-4。
周进朝陈志青黄佐华
关键词:折射率棱镜全反射准直
一种去除椒盐噪声的自适应极值中值滤波算法被引量:7
2012年
针对椒盐噪声的特点,为了更好地滤除图像中的椒盐噪声同时又能较好地保护图像细节,提出一种自适应极值中值滤波算法。该算法通过对窗口内的非噪声点的检测自适应调整窗口大小,使用Max-Min算子作为噪声检测器,通过设置合理的阈值对灰度值等于极大值或者极小值的窗口中心的像素点进行噪声识别,减小将信号点误判为噪声点的概率,然后将检测出的噪声点用窗口内信号点的中值代替,而信号点保持不变直接输出。同时对超过设定的最大窗口的情况,窗口中心的像素点的灰度值用4个相邻的已处理的像素点灰度值的均值进行替换。实验仿真结果证明了该算法滤除椒盐噪声的有效性,在噪声较大时,去噪效果更明显。
曾宪佑黄佐华周进朝张勇
关键词:噪声检测阈值
偏振光反射法测量薄膜参数被引量:1
2012年
根据偏振光反射原理和多角度测量的多点拟合算法,研究了薄膜材料的厚度、实际测量中的噪声、特殊入射角三个因素对薄膜参数测量精度的影响。对SiO2薄膜样品进行数值模拟分析,结果表明,薄膜厚度大于150nm时的反演误差较小,50nm以下的薄膜反演误差较大;噪声越小测量精度越高;SiO2薄膜存在特殊的入射角,该角选为初始入射角将出现较大误差甚至错误,测量时应避开。若初始入射角的选取偏离特殊角±2°,即可消除特殊点所带来的影响。
周进朝余文芳黄佐华
关键词:折射率偏振光
基于光波导测量系统的棱镜及薄膜参数测量实验研究
随着微纳制造技术的发展,对光学材料折射率及薄膜参数的高精度测量显得尤为重要,平面波导薄膜作为集成光路的基础,它不仅是集成光学器件的重要组成部分,其参量还会直接影响器件的性能。本文借助于棱镜光波导测量仪系统平台并在此平台的...
周进朝
关键词:平面波导折射率厚度
线偏振光反射法测量介质材料折射率的方法被引量:4
2012年
依据线偏振光反射原理,实现了对介质折射率的测量。使用高准直半导体激光器激光入射到待测样品表面,逐步旋转样品或改变样品表面的入射角,得到待测样品反射光强随入射角变化的关系曲线;当用p线偏振光入射时,曲线上有一光强随入射角的变化趋近于零的点,其对应入射角为布儒斯特角,由线偏振光反射原理可求得样品折射率。用此方法测量了玻璃和棱镜的折射率,测量的结果偏差控制在1×10-3量级,测量的重复性比较好。
王泽斌周进朝黄佐华
关键词:折射率偏振光
斯托克斯椭偏仪仪器矩阵在位定标方法被引量:4
2013年
斯托克斯椭偏仪可以快速测量薄膜材料的光学参数,其仪器矩阵的精确度直接影响系统对薄膜反射光线斯托克斯参量的测量,间接限制了薄膜参数的测量精度。对线偏振光与标准薄膜片产生不同偏振态的机制进行理论推导,并根据四点定标法原理,利用线偏振光与标准薄膜片组合的在位定标方法实现对斯托克斯椭偏仪仪器矩阵的精确测量,有效避免了传统定标方法中光学元件方位角及其不完美产生的误差,进而提高了薄膜光学参数的测量精度。实验表明,采用在位定标方法,薄膜反射光线的斯托克斯参量的测量精度达0.6%,薄膜厚度及折射率的测量偏差分别小于0.2nm及0.003。
张勇黄佐华赵振堂曾宪佑周进朝
关键词:薄膜厚度折射率
基于差分分层噪声检测的开关中值滤波算法被引量:5
2014年
为了精确地检测出图像中的脉冲噪声并滤除,提出了一种差分分层噪声检测的开关中值滤波算法。该算法对噪声检测窗口内像素点按灰度值大小排序,通过差分方法划分出高、低阶噪声块和信号块3部分。当待测像素点属于信号块时视其为信号点;否则,视其为可能噪声点。利用可能噪声点与信号块中与其灰度值最临近的信号点的灰度的差定义了梯度函数,在梯度函数的基础上定义了用于对可能噪声点进行二次检测的模糊隶属函数,对滤波方法进行模糊加权,得到一种加权滤波方法。实验结果证明了该算法对脉冲噪声有很强的抑制作用。
曾宪佑黄佐华周进朝
关键词:图像去噪脉冲噪声隶属函数
光波导技术同步测量棱镜及波导薄膜参数被引量:3
2012年
依据全反射理论和棱镜耦合原理,实现了对棱镜折射率及波导薄膜材料折射率和厚度的同步测量。使用高准直半导体激光器激光入射到棱镜内部与波导膜的分界面上,逐步旋转棱镜或改变棱镜的入射角,得到棱镜耦合M线,曲线前面几组的波谷为波导模激发,在M线左侧收尾处有一个不完整波峰,其反射光强随入射角迅速衰减,为全反射时的临界点,由此可实现棱镜及波导薄膜参数的同步测量;用此法测量了棱镜耦合一体化平面波导棱镜的折射率和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)聚合物波导薄膜的折射率和厚度。测量棱镜折射率精度为±1.9×10-4,波导薄膜折射率和厚度的精度分别为±6.2×10-4μm和±1.6×10-2μm。
周进朝黄佐华曾宪佑张勇
关键词:平面波导折射率全反射厚度
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