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李锴

作品数：1 被引量：5H指数：1
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇功能码
  • 1篇MTL
  • 1篇ATE
  • 1篇测试技术

机构

  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇王征宇
  • 1篇赵桦
  • 1篇李锴

传媒

  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2016
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于V93000 ATE的MTL生成功能码的方法被引量：5
2016年
随着信息科学和产业的发展,集成电路为人们广泛应用。在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍。存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的内容。V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台,它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源。可针对各种高集成度的电子产品组件进行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)。就利用V93000测试系统(ATE)的MTL工具产生存储器功能测试码的方法进行阐述,分析了与传统生成功能码方式相比,MTL具备灵活、占内存小、实现方便等特点。
赵桦王征宇李锴
关键词：测试技术ATEMTL功能码
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