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孙伟

作品数：1 被引量：2H指数：1
供职机构：东北大学研究院更多>>
相关领域：金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 1篇射线
  • 1篇铋系
  • 1篇结构参数
  • 1篇厚度
  • 1篇X射线
  • 1篇超导
  • 1篇超导薄膜

机构

  • 1篇东北大学

作者

  • 1篇裴剑芬
  • 1篇贺彤
  • 1篇祁阳
  • 1篇金禹
  • 1篇孙伟

传媒

  • 1篇理化检验（物...

年份

  • 1篇2009
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
X射线反射法测量铋系超导薄膜的结构参数被引量：2
2009年
以铋系超导薄膜材料为例,应用X射线反射法测量薄膜材料的厚度以及粗糙度等结构参数,对测量方法的原理、衍射仪的调试和步骤等进行了详细的说明。这一方法为薄膜材料结构参数的测量提供了新途径。
贺彤孙伟金禹祁阳裴剑芬
关键词：厚度
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共1页<1>
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