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方达

作品数:4 被引量:1H指数:1
供职机构:云南师范大学物理与电子信息学院更多>>
发文基金:云南省教育厅科学研究基金教育部科学技术研究重点项目国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学核科学技术更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇理学
  • 1篇核科学技术

主题

  • 3篇逃逸电子
  • 2篇HT-7
  • 1篇等离子体
  • 1篇等离子体密度
  • 1篇电磁诱导
  • 1篇电磁诱导透明
  • 1篇硬X射线
  • 1篇太赫兹
  • 1篇太赫兹波
  • 1篇逃逸
  • 1篇温控
  • 1篇赫兹
  • 1篇放电
  • 1篇YBCO薄膜
  • 1篇EIT

机构

  • 4篇云南师范大学
  • 4篇四川文理学院
  • 1篇华中科技大学
  • 1篇天津大学

作者

  • 4篇段卓琦
  • 4篇竹锦霞
  • 4篇朱俊
  • 4篇陈忠勇
  • 4篇方达
  • 3篇孙伟民
  • 1篇韩家广
  • 1篇巨洪军

传媒

  • 2篇红河学院学报
  • 1篇云南师范大学...
  • 1篇核聚变与等离...

年份

  • 2篇2012
  • 2篇2011
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
提高HT-7放电平顶阶段等离子体密度对逃逸电子的影响
2012年
利用硬X射线探测系统监测HT-7托卡马克装置中逃逸电子轰击到装置第一壁材料时所产生的高能硬X射线,研究了在放电平顶阶段提高等离子体密度对逃逸电子行为的影响。实验结果表明,通过提高放电平顶阶段等离子体密度,HXR强度迅速降到很低的水平,这意味着能有效减少这个阶段形成的逃逸电子的数目及能量。
竹锦霞段卓琦朱俊方达陈忠勇
关键词:逃逸电子等离子体密度硬X射线
等离子体破裂时逃逸电流的实验研究
2012年
等离子体破裂是影响托卡马克装置实现商业发电的一大难题。等离子体大破裂会导致等离子体在瞬间熄灭,同时会对装置本身以及装置的第一壁材料形成巨大损伤。等离子体破裂时会产生大量高能逃逸电子,从而把一部分等离子体电流转化为逃逸电流。逃逸电流在一定的情况下会局域地沉积到装置的第一壁上,从而影响壁材料的寿命和性能,观察研究等离子体破裂下电流的熄灭特征以及逃逸电流的特征,探寻降低等离子体破裂危害的方法至关重要。
方达竹锦霞孙伟民段卓琦朱俊陈忠勇
关键词:逃逸电子
太赫兹温控电磁诱导透明人工电磁媒质的研究被引量:1
2011年
利用新型人工电磁媒质来模拟电磁诱导透明(Electromagnetically Induced Transparency,EIT)现象是新兴的电磁学研究方向,有望让本属于量子光学领域的EIT现象的高Q值、低损耗和大群折射率等优势得到更广泛的应用。文章在传统太赫兹EIT人工电磁媒质的设计中引入了高温超导材料钇钡铜氧(YBCO),通过温控的方式改变YBCO的电导率进而影响YBCO薄膜的介电性质,实现了主动式的类EIT现象并对EIT人工电磁媒质的调谐特性进行了动态的分析,为开发利用类EIT效应的新型太赫兹调制器件和可调谐的慢光、延时器件提供了新思路。
朱俊竹锦霞方达孙伟民段卓琦陈忠勇韩家广
关键词:YBCO薄膜太赫兹波
TEXTOR-94与HT-7上欧姆放电下逃逸电子行为对比分析
2011年
实验研究发现HT-7托卡马克在放电起始阶段采用初始密度爬升不仅抑制了逃逸电子的初级产生过程,同时也抑制了逃逸电子的次级产生过程。而TEXTOR-94托卡马克在类似实验中观察到了比较强的次级逃逸过程。对该现象进行了对比分析。
竹锦霞段卓琦巨洪军朱俊方达孙伟民陈忠勇
关键词:逃逸电子
共1页<1>
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