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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇电沉积
  • 1篇电沉积法
  • 1篇电沉积法制备
  • 1篇电化学
  • 1篇电化学沉积
  • 1篇异质结
  • 1篇纳米
  • 1篇纳米晶
  • 1篇TNT
  • 1篇DS

机构

  • 1篇桂林电子科技...
  • 1篇桂林理工大学

作者

  • 1篇王苏宁
  • 1篇王伟
  • 1篇钟福新
  • 1篇黎燕
  • 1篇莫德清
  • 1篇徐炳文

传媒

  • 1篇梧州学院学报

年份

  • 1篇2015
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
电沉积法制备TNTs/CdS_xSe_y异质结及其光电性能研究
2015年
以TiO2纳米管阵列(TNTs)为基底,采用电化学沉积法制备TNTs/Cd SxSey异质结,在单一变量的基础上结合正交实验,探讨了络合剂的选择、沉积时间、沉积温度、Na2S2O3浓度、柠檬酸浓度、沉积电压等条件对TNTs/Cd SxSey异质结光电压的影响。结果表明,当Na2S2O3浓度为0.009 mol·L^-1、柠檬酸的浓度为0.025 mol·L^-1时,在20℃、2.4 V沉积电压下电化学沉积5 min,获得的TNTs/Cd SxSey异质结光电压值达0.2672 V,优于同等条件下空白TNTs的0.0917 V。XRD结果显示,Cd SxSey的主要衍射峰位于2θ为26.276°、27.992°、51.285°、52.842°的位置,分别对应于标准卡片Cd S0.25Se0.75的[002]、[101]、[112]、[201]晶面,属于六方晶系,在2θ为37.600°、47.565°处出现Se的单质峰,在2θ为62.728°、72.033°处出现六方晶系单质Cd的(110)、(112)晶面。根据EDS的数据分析可知,Cd、S、Se的原子个数百分比分别为2.57%,0.63%,4.76%,对Cd进行归一化处理后,可确定所得样品的化学式为TNTs/Cd1.02S0.25Se1.89,其中含0.02的单质Cd和1.14的单质Se,扫描电子显微镜(SEM)显示所制样品为50~100 nm量子点。
王苏宁徐炳文王伟黎燕莫德清钟福新
关键词:异质结电化学沉积
共1页<1>
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