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齐健

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：大连交通大学材料科学与工程学院更多>>
相关领域：金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 1篇电子束
  • 1篇电子束焊
  • 1篇电子束焊接
  • 1篇电子束焊接头
  • 1篇疲劳裂纹扩展
  • 1篇疲劳裂纹扩展...
  • 1篇钛合金
  • 1篇裂纹扩展速率
  • 1篇接头
  • 1篇扩展速率
  • 1篇焊接头
  • 1篇合金
  • 1篇TC4钛合金
  • 1篇氢

机构

  • 1篇大连交通大学
  • 1篇中航工业北京...

作者

  • 1篇刘鹏涛
  • 1篇王亚军
  • 1篇刘昕
  • 1篇赵秀娟
  • 1篇陈春焕
  • 1篇任瑞铭
  • 1篇齐健

传媒

  • 1篇航空材料学报

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
氢对TC4钛合金电子束焊接头疲劳裂纹扩展速率的影响被引量：3
2011年
采用充氢CT试样对TC4钛合金电子束焊接头的室温疲劳裂纹扩展速率进行了测定,并对试样断口和接头各区显微组织进行了观察。试验结果表明:充氢母材试样在低速扩展区和失稳扩展区的da/dN相对于未充氢试样有明显的提高,但不同氢含量之间差别不大,在稳态扩展区(Paris区),氢对da/dN的影响很小。充氢焊缝试样在整个裂纹扩展过程中的da/dN明显提高,且随着氢含量的增加而增加。断口分析结果表明氢的加入使得材料脆性增大,促进了裂纹的扩展。在Paris区,组织结构的转变对da/dN的影响显著,电子束焊接头焊缝的针状马氏体组织比层片状α+β组织具有更高的抵抗裂纹扩展的能力。
刘鹏涛赵秀娟刘昕齐健陈春焕王亚军任瑞铭
关键词：氢TC4钛合金电子束焊疲劳裂纹扩展速率
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