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谭慧宇

作品数:2 被引量:3H指数:1
供职机构:西北工业大学电子信息学院更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇带隙基准
  • 2篇带隙基准电路
  • 2篇电路
  • 2篇基准电路
  • 1篇电源抑制
  • 1篇电源抑制比
  • 1篇抑制比
  • 1篇温度补偿
  • 1篇温度性能
  • 1篇稳定性
  • 1篇高稳定
  • 1篇高稳定性
  • 1篇BICMOS...
  • 1篇高性能

机构

  • 2篇西北工业大学

作者

  • 2篇刘诗斌
  • 2篇宋晶
  • 2篇谭慧宇
  • 1篇张勇

传媒

  • 1篇电子测量技术
  • 1篇微电子学

年份

  • 2篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种具有高稳定性的带隙基准电路被引量:2
2007年
针对基极-发射极电压与温度呈非线性关系的问题,设计了一种高阶温度补偿方法:通过在PTAT产生电路的基极引入一个小电阻,在基准电压中迭加一个温度的指数函数,以达到消除高次项的目的。针对电源电压变化的问题,在保留传统带隙基准反馈回路的基础上,提出了一种钳位互补补偿方法,通过稳定偏置电流来降低电源变化对基准的间接影响。文中给出了详细的分析和电路实现。该电路通过Hspice验证,温度系数仅为1.43 ppm/℃,并具有0.105 mV/V的电源抑制特性及直流PSRR=65 dB的高电源抑制比。
宋晶刘诗斌张勇谭慧宇
关键词:带隙基准电路温度补偿电源抑制比
一款基于BiCMOS工艺的高性能带隙基准电路被引量:1
2007年
电源电压的变化是影响带隙基准电路稳定性的主要因素之一。本文针对该问题,在采用深度负反馈环路的基础上,增加了一种提高电源电压抑制比的电路结构来降低电源变化对基准的影响。该电路采用BiCMOS工艺设计,同时具有良好的温度性能。文中给出了详细的分析和电路实现。该电路通过Hspice验证,温度系数仅为5.7ppm/℃。
宋晶刘诗斌谭慧宇
关键词:带隙基准温度性能
共1页<1>
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