樊俊峰
- 作品数：1 被引量：2H指数：1
- 供职机构：浙江大学电气工程学院超大规模集成电路设计研究所更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 深亚微米下芯片电源网络的设计和验证被引量：2
- 2006年
- 随着芯片集成度的逐渐提高,芯片单位面积所消耗的功耗也越来越大,因此,可靠的电源网络设计和验证已成为芯片设计成败的关键因素之一。在以往,集成电路(IC)设计工程师往往根据经验来设计电源网络,但工艺到0.18μm,这往往会引起芯片功能失效。根据这个问题,本文首先介绍电压降(IR-Drop)和电子迁移率(Electro-migration)现象和对芯片性能的影响;其次,提出一种有效的电源网络设计和验证方法,并在芯片的物理设计初期对电源网络作可靠性估计;最后,经过椭圆曲线加密芯片(ECC&RSA)的流片,表明采用该方法设计的芯片,工作情况良好。
- 樊俊峰王国雄沈海斌楼久怀
- 关键词：电源网络电压降电子迁移率
