李坤兰
- 作品数：6 被引量：10H指数：3
- 供职机构：中国电子产品可靠性与环境试验研究所更多>>
- 相关领域：电气工程兵器科学与技术金属学及工艺自动化与计算机技术更多>>
- 半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统
- 本发明涉及一种半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统，包括以下步骤：获取试验样品，对试验样品进行失效检测并分类，得到合格样品集和失效样品集，对合格样品集进行贮存可靠性特征检测分析得到第一分析结果，对失效样品集进行失效分...
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- 文献传递
- 半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统
- 本发明涉及一种半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统，包括以下步骤：获取试验样品，对试验样品进行失效检测并分类，得到合格样品集和失效样品集，对合格样品集进行贮存可靠性特征检测分析得到第一分析结果，对失效样品集进行失效分...
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- 电荷放大器贮存寿命预测方法、装置、存储介质和计算机设备
- 本发明涉及一种电荷放大器贮存寿命预测方法、装置、存储介质和计算机设备。首先获取电荷放大器贮存寿命的特征参数以及特征参数对应的特征数据序列，当特征数据序列单调递减且特征数据序列中的特征数据值大于特征参数的预设失效阈值时，将...
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- 文献传递
- 某型混合集成电路长期贮存寿命研究被引量：3
- 2016年
- 目的研究某型混合集成电路在自然环境下的贮存寿命。方法选用某型混合集成电路在A(寒温)、B(亚湿热)、C(亚湿热)、D(热带海洋)等4地开展为期172个月的库房贮存试验,跟踪测试其性能参数增益。应用灰色预测理论中的灰色GM(1,1)模型,对该型混合集成电路的贮存寿命进行预测,结果 D地的寿命最长,为32年;A地的寿命最短,为21年。结论温度较差是增益退化的最优影响因素。就该型混合集成电路而言,B地和C地的环境应力对其影响无明显差异。
- 李坤兰青林
- 关键词：混合集成电路性能参数
- 恒温加速退化试验的灰色预测被引量：3
- 2011年
- 针对恒温加速退化试验数据处理中的贫数据问题,利用灰色建模所需数据量少的优势,提出了加速寿命的灰色预测方法。将灰色GM(1,1)模型与阿伦尼乌斯方程相结合,提出了加速退化试验有效性判断依据和常温贮存寿命外推方法,并在某型三极管的加速退化试验数据处理中进行了成功应用。将此外推方法与曲线拟合方法进行了比较,结果表明该模型具有更好的适应性。
- 李坤兰
- 关键词：加速退化试验灰色GM(1,1)模型
- 电容器长期贮存可靠性研究被引量：4
- 2010年
- 在A(寒温)、B(亚湿热-入海口)、C(亚湿热-内陆)、D(热带海洋)四地开展了14个型号电容器的150个月贮存试验,研究了累积失效样品数变化趋势、贮存失效模式、贮存敏感参数和贮存寿命。结果表明:A地较适合电容器长期贮存;电容器的主要贮存失效模式是参数超差,贮存敏感参数是漏电流或损耗角正切;在这14种电容器中,有机薄膜电容器贮存可靠性最好,平均贮存寿命远超150个月;铝电解电容器(CDK—X)贮存可靠性最差,平均贮存寿命仅为1.875个月。
- 李坤兰邱森宝
- 关键词：电容器失效率失效模式
