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任道远

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：北京航空航天大学更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇带材
  • 1篇电流
  • 1篇电流密度
  • 1篇无损检测
  • 1篇显微测量
  • 1篇密度分布
  • 1篇场分布
  • 1篇超导
  • 1篇超导带
  • 1篇超导带材
  • 1篇磁场
  • 1篇磁场分布

机构

  • 1篇北京航空航天...
  • 1篇山东大学

作者

  • 1篇王三胜
  • 1篇丁然
  • 1篇李园园
  • 1篇杨吉成
  • 1篇任道远
  • 1篇李方
  • 1篇李天

传媒

  • 1篇测试技术学报

年份

  • 1篇2017
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
磁显微测量超导带材表面电流密度分布
2017年
基于缺陷周围磁场异常变化的检测原理,通过磁场检测和运动控制的结合,建立了基于霍尔传感器和三维机械运动平台的缺陷区域检查和定位系统.利用该系统对浸泡在液氮中的超导带材BI2121(长5cm宽1cm)进行磁显微测量,可以观察超导带材自场分布.根据毕奥萨伐尔定律,磁场值经过二维傅里叶逆运算确定电流密度分布,观察电流密度异常分布推断出被测样品缺陷的位置和大小.实验结果表明霍尔探头扫描显微镜是一个诊断超导体特性有用的工具,为无损检测技术提供一种快速简便的方法.
李园园丁然王三胜任道远李方杨吉成霍可佳李天
关键词：超导带材磁场分布电流密度无损检测
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