周宇澄
- 作品数：4 被引量：0H指数：0
- 供职机构：合肥工业大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 一种高速低功耗的加固锁存器
- 本发明公开了一种高速低功耗的加固锁存器，包括三个传输门、两个自恢复C单元和一个内部节点加强型C单元组成。有益的技术效果：本发明实现了对影响时序电路主要软错误：单粒子翻转的有效抵御，自恢复C单元实现了对于其自身输出受到干扰...
- 张章周宇澄魏一勤解光军
- 集成电路容软错误加固锁存器方案研究与设计
- 在集成电路制造水平不断发展的当下，芯片的集成度越来越高，工作频率越来越快，工作电压和晶体管的阈值电压不断降低，晶体管尺寸也在逐年减小，所以芯片电路内部节点临界电荷量也在持续的减少，导致电路软错误率不断上升。 由于目前软...
- 周宇澄
- 关键词：集成电路软错误
- 文献传递
- 一种高速低功耗的加固锁存器
- 本发明公开了一种高速低功耗的加固锁存器，包括三个传输门、两个自恢复C单元和一个内部节点加强型C单元组成。有益的技术效果：本发明实现了对影响时序电路主要软错误：单粒子翻转的有效抵御，自恢复C单元实现了对于其自身输出受到干扰...
- 张章周宇澄魏一勤解光军
- 文献传递
- 一种新型低功耗抗软错误锁存器
- 2017年
- 该文提出一种新型的C单元的连接方法,将距离输出节点比较远的P型和N型晶体管的栅端与C单元的输出节点相连接,利用晶体管自身的反馈机制形成反馈路径,实现了自恢复功能,因此大幅降低动态消耗和硬件开销;采用点加强型C单元作为输出级电路并进行优化,使得电路抵御单粒子翻转的能力更强;基于上述改进,搭建出一个新的抗软错误锁存器,将输入信号经过传输门以后接传到输出端,以降低输入信号传到输出节点的延迟,利用节点之间的反馈比较机制进一步提升各个电路节点的临界电荷量。在22 nm的先进工艺下进行仿真,实验结果表明,提出的新型锁存器电路不仅具有优秀的抗软错误能力,并且在功耗延迟积方面比现有的锁存器电路性能提升了26.74%~97.50%。
- 张章周宇澄刘俊丞程心解光军
- 关键词：锁存器软错误自恢复
