赵兴
- 作品数：14 被引量：4H指数：1
- 供职机构：中国计量科学研究院更多>>
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- 相关领域：电子电信一般工业技术机械工程理学更多>>
- 一种片上天线测量用探针馈电去嵌入方法
- 本发明公开了一种片上天线测量用探针馈电去嵌入方法，包括以下步骤：步骤一、采用探针馈电，得到探针和片上天线AOC的共同增益测量结果；步骤二、测量片上天线的空间插损参数和探针的散射参数；步骤三、对探针进行耦合去嵌入操作，从共...
- 刘潇梁伟军班浩赵兴
- 文献传递
- 一种片上天线测量用探针馈电去嵌入方法
- 本发明公开了一种片上天线测量用探针馈电去嵌入方法，包括以下步骤：步骤一、采用探针馈电，得到探针和片上天线AOC的共同增益测量结果；步骤二、测量片上天线的空间插损参数和探针的散射参数；步骤三、对探针进行耦合去嵌入操作，从共...
- 刘潇梁伟军班浩赵兴
- 一种带反射腔的±45°金属交叉偶极子双极化天线
- 本发明公开了一种带反射腔的±45°金属交叉偶极子双极化天线，包括防尘组件、反射组件、天线振子组件、馈电组件以及支撑板组件。本发明的有益效果为采用金属对称振子，振子的辐射面由两对蝶形振臂±45°垂直交叉组成，蝶形振臂和连接...
- 刘潇班浩赵兴王维龙赵娟王荣才
- 频域信道测量中VNA测量不确定度传播规律
- 2017年
- 针对频域信道测量中测量仪器引入的不确定度进行了深入分析。矢量网络分析仪是频域信道测量中最重要的测量仪器,测量前必须进行自校准。深入分析不同校准方法所引入的测量不确定度是合理选择自校方法的量化依据。测量不确定度分析基于蒙特卡洛法。由于在频域信道测量中需要对多个频点进行测量,而各频点间的测量结果存在较强的相关性,因此在应用蒙特卡洛法的基础上引入了基于协方差矩阵的分析方法,从而考虑了相关性的影响,给出了更为准确合理的不确定度分析,最终有效地指导了自校方法的合理选择。实验表明,是否考虑相关性,对信道参数的测量不确定度有较大影响。基于对测量不确定度的定量分析,可以得出直通校准是更适合于信道测量的矢网自校准方法的结论。
- 周鑫冯志刚钟章队卞昕艾渤刘科郭晓涛赵兴
- 关键词：计量学信道测量路径损耗时延扩展
- MIMO信道仿真器相对路径衰减校准方法的研究
- 2017年
- 通过信道估计技术实现对多输入多输出(MIMO)信道仿真器的功率延时分布的测量,完成MIMO信道仿真器相对路径衰减的校准,并利用两路径标准延时衰减微波器件网络,解决该参数的量值溯源问题。实验结果表明:相对路径衰减的校准可从0 dB到-25 dB,在500 MHz频率点和300 ns的相对路径延时点上,相对路径衰减校准结果的扩展不确定度为0.35 dB(k=2)。
- 侯立新赵海宁田飞赵兴杨丽
- 关键词：计量学多输入多输出信道信道估计
- 天线增益获取方法、装置、电子设备及存储介质
- 本发明天线信号处理技术领域，提供一种天线增益获取方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：采集参考天线和待测天线处于不同间隔距离时的空间插入损耗；其中，所述参考天线的增益已知；根据所述空间插入损耗生成随间隔距离变化的空间...
- 刘潇宋晓茜班浩赵兴
- 一种环天线校准对准装置
- 本发明公开了一种环天线校准对准装置，包括支撑架和对准杆，所述对准杆的横杆的第一端与标准天线对准盘连接，横杆的第二端与待测天线对准盘连接，标准天线对准盘和待测天线对准盘平行且圆心在位于同一条中线上，支撑架和对准杆通过固定卡...
- 班浩刘潇吴锦铁赵兴王荣才
- 天线增益获取方法、装置、电子设备及存储介质
- 本发明天线信号处理技术领域，提供一种天线增益获取方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：采集参考天线和待测天线处于不同间隔距离时的空间插入损耗；其中，所述参考天线的增益已知；根据所述空间插入损耗生成随间隔距离变化的空间...
- 刘潇宋晓茜班浩赵兴
- 仿真MIMO信道相对路径衰减测量系统的研究
- 建立基于信道估计技术的MIMO信道功率延时分布(power delay profile,PDP)测量装置,以便实现对MIMO仿真信道中相对路径衰减的校准,并且研制出两路径标准延时衰减网络,解决了该参数的量值溯源.通过实验...
- 赵海宁侯立新田飞赵兴杨丽
- 关键词：移动通信多输入多输出信道估计测量系统
- 微波暗室静区性能评测及不确定度分析被引量：4
- 2022年
- 微波暗室广泛用于天线、目标散射特性测量、雷达成像等领域,是微波频段最重要的测试场地之一。微波暗室建设投入较高,其静区性能取决于其内壁铺设的吸波材料特性及其布置,静区指标直接影响使用该暗室测试的设备测量结果准确度。因此如何测量得到准确的微波暗室静区指标是微波暗室验收中必不可少的环节,也是微波暗室环境对测量结果贡献评估的基础。针对微波暗室静区的关键指标——静区反射率电平的测量方法进行研究,针对中大型微波暗室,建立最大行程4 m的基于三维扫描架的静区测量系统,覆盖频率范围1~40 GHz。利用其开展微波暗室静区的测量,给出静区反射率电平的测量结果,并进行了测量系统影响量的全面分析和测量结果不确定度评定。结果表明,以1.1 GHz为例,该系统静区反射率电平在−33 dB的情况下,测量不确定度为1.72 dB(k=2)。
- 刘潇赵兴洪力李昱瑶班浩
- 关键词：微波暗室测量不确定度
