周舟
- 作品数：7 被引量：27H指数：3
- 供职机构：北京工业大学更多>>
- 发文基金：北京市自然科学基金国家高技术研究发展计划国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- GaN基大功率白光LED的高温老化特性被引量：19
- 2011年
- 对大功率GaN基白光LED在85℃下进行了高温加速老化实验。经6 500 h的老化,样品光通量退化幅度为28%～33%。样品的I-V特性变化表明其串联电阻和反向漏电流不断增大,原因可归结为芯片欧姆接触的退化及芯片材料中缺陷密度的提高。样品的热特性变化显示出各结构层热阻均明显增大,这是由散热通道上各层材料的老化及焊料层出现大面积空洞引起的。分析表明,高温老化过程中芯片和封装材料的退化共同导致了LED的缓变失效。
- 周舟冯士维张光沉郭春生李静婉
- 关键词：大功率白光LED热阻
- 功率型白光LED光学特性退化分析被引量：3
- 2012年
- 将GaN基蓝光芯片涂敷YAG荧光粉和透明硅胶制成额定功率为1 W的白光发光二极管(LED),对其施加900mA的电流应力,在老化过程中测量白光LED的主要光学参数,考察其光学特性的退化情况。经过4 200h的老化,样品光通量退化为初始值的15%～18%。样品的漏电流明显增大,表明芯片有源区缺陷密度提高,但光谱分布图中蓝光部分的辐射量未减少,仅观察到黄光部分辐射量的减少,推断出YAG荧光粉的转换效率降低。同时,从原理上分析了样品色温逐渐增大,显色指数基本不变的原因,对大功率白光LED在照明领域的应用有一定的借鉴意义。
- 周舟冯士维郭春生张光沉吴艳艳
- 关键词：发光二极管光谱荧光粉显色指数
- 功率半导体LED热阻快速批量筛选装置和方法
- 功率半导体LED热阻快速批量筛选装置和方法属于半导体LED及相关PN结器件热阻考核和筛选技术领域。该发明主要应用于快速、非破坏性确定器件热阻过大的方法和装置。本发明的主要发明点在于：设计了可容纳百颗LED的夹具，保证每颗...
- 冯士维张光沉郭春生周舟程尧海李静婉
- GaN基功率型白光LED的可靠性研究
- 作为新一代照明光源，LED具有节能、环保、寿命长、体积小、响应快等特点，是近年来全球最具发展前景的高新技术领域之一。许多国家针对LED照明制定了一系列的发展计划，LED的光效、寿命、单灯光通量、单灯输入功率等技术指标逐年...
- 周舟
- 关键词：白光LED可靠性加速寿命试验氮化镓热学参数
- 功率半导体LED热阻快速批量筛选装置
- 功率半导体LED热阻快速批量筛选装置属于半导体LED及相关PN结器件热阻考核和筛选技术领域。该装置从上至下包括：热学接触板，被测器件夹具板，针台；热学接触板，包括上下两层：上板材、下板材，在下板材上钻有需要测试LED数量...
- 冯士维张光沉郭春生周舟程尧海李静婉
- 文献传递
- 大功率GaN基白光LED荧光层失效机理研究被引量：5
- 2012年
- 在某些情况下长期服役,发现部分白光发光二极管(LED)器件表面出现黑色物质,影响了光的转换和取出。采用切割剖面、扫描电镜(SEM)和能量弥散光谱仪(EDS)等微区分析手段,辅以电流和温度加速应力实验,对部分老化后表面出现变黑现象的芯片进行分析,发现变黑样品的C与Si的原子数比是13.21,高于未变黑样品(8.45)。而有机材料在温度和光照条件下会发生降解碳化,这是LED封装失效的主要原因,与芯片本身无关,验证了高温是最主要的失效因素,光照影响也不可忽略。芯片和封装材料膨胀系数不匹配造成的界面应力、长时间蓝光照射引起的光降解和光热耦合作用造成了器件灾变性失效。
- 吴艳艳冯士维周舟魏光华
- 关键词：光学器件微区分析
- 应用功率半导体LED热阻快速批量筛选装置进行筛选的方法
- 功率半导体LED热阻快速批量筛选装置和方法属于半导体LED及相关PN结器件热阻考核和筛选技术领域。该发明主要应用于快速、非破坏性确定器件热阻过大的方法和装置。本发明的主要发明点在于：设计了可容纳百颗LED的夹具，保证每颗...
- 冯士维张光沉郭春生周舟程尧海李静婉
- 文献传递
