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徐敬

作品数:31 被引量:156H指数:8
供职机构:同济大学理学院精密光学工程技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划上海市科学技术委员会资助项目更多>>
相关领域:理学机械工程一般工业技术化学工程更多>>

文献类型

  • 24篇期刊文章
  • 6篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 22篇理学
  • 7篇机械工程
  • 6篇一般工业技术
  • 4篇化学工程
  • 3篇电气工程
  • 3篇建筑科学
  • 1篇生物学
  • 1篇电子电信
  • 1篇文化科学

主题

  • 6篇多层膜
  • 6篇原子力显微镜
  • 5篇溅射
  • 5篇光学
  • 5篇方解石
  • 5篇磁控
  • 5篇磁控溅射
  • 4篇反射率
  • 3篇序数
  • 3篇压电
  • 3篇衍射仪
  • 3篇乙烯
  • 3篇原子
  • 3篇原子序数
  • 3篇射线
  • 3篇碳酸钙
  • 3篇偏氟乙烯
  • 3篇羟基乙叉二膦...
  • 3篇聚偏氟乙烯
  • 3篇极化反转

机构

  • 31篇同济大学
  • 2篇复旦大学
  • 1篇第二军医大学
  • 1篇中国科学技术...

作者

  • 31篇徐敬
  • 13篇王占山
  • 11篇朱京涛
  • 11篇陈玲燕
  • 8篇李杰
  • 6篇张众
  • 5篇王风丽
  • 5篇朱国栋
  • 5篇王晓强
  • 4篇秦树基
  • 4篇黄秋实
  • 4篇李杰
  • 3篇王蓓
  • 3篇蒋晖
  • 3篇王洪昌
  • 3篇白亮
  • 2篇祝生祥
  • 2篇倪忠强
  • 2篇武荷岚
  • 2篇张莉

传媒

  • 4篇同济大学学报...
  • 2篇光学精密工程
  • 2篇物理学报
  • 2篇光子学报
  • 2篇强激光与粒子...
  • 1篇物理实验
  • 1篇中国激光
  • 1篇光学学报
  • 1篇第二军医大学...
  • 1篇工业水处理
  • 1篇计算机与应用...
  • 1篇材料研究学报
  • 1篇精细化工
  • 1篇电子显微学报
  • 1篇声学技术
  • 1篇功能材料与器...
  • 1篇光学仪器
  • 1篇2007中德...
  • 1篇2010年两...
  • 1篇第五届全国S...

年份

  • 2篇2011
  • 2篇2010
  • 5篇2009
  • 1篇2008
  • 4篇2007
  • 6篇2006
  • 1篇2005
  • 3篇2004
  • 1篇2003
  • 1篇2002
  • 1篇2001
  • 1篇2000
  • 3篇1999
31 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
牛初乳免疫球蛋白 A的纯化与原子力显微镜观测被引量:7
2004年
目的 :纯化牛初乳免疫球蛋白 A(Ig A)并在原子力显微镜 (AFM)下进行观测。 方法 :应用逐级盐析、透析和离子交换层析等生化手段 ,从牛初乳中提取 Ig A,SDS- PAGE鉴定纯化结果。应用 AFM对吸附在新剥离云母或多聚赖氨酸 (PL L)处理云母片基上的 Ig A进行空气相的结构观测。 结果 :考马斯亮蓝染色鉴定纯化的蛋白含有重链、轻链和分泌片 ;正常生理条件下的 Ig A以寡聚体结构为主 ,单体大约 2 .6 nm× 1 8.0 nm× 2 0 .2 nm,与电镜结果基本吻合 ;Ig A在 PL L 处理云母片基上的吸附呈现树枝状聚集 ,随孵育时间的延长 ,聚集现象更趋明显。 结论 :结合生化方法和 AFM观测 ,可对 Ig A等免疫球蛋白分子进行天然结构状态的微观探测 。
傅骁勇谭璐徐敬朱国栋李杰王红阳
关键词:牛初乳免疫球蛋白A纯化原子力显微镜生理调控
不同本底真空度下SiC/Mg极紫外多层膜的制备和测试被引量:8
2009年
为研究不同本底真空度对SiC/Mg极紫外多层膜光学性能的影响,利用直流磁控溅射方法在不同本底真空度条件下制备了峰值反射波长在30.4nm的SiC/Mg周期膜。X射线掠入射反射测试结果表明,不同本底真空度条件下制备的SiC/Mg周期多层膜膜层质量有明显差异。用同步辐射测试了SiC/Mg多层膜在工作波长处的反射率,结果表明,本底真空度为6.0×10-5Pa时,SiC/Mg周期膜反射率为43%,而本底真空度在5.0×10-4Pa时,SiC/Mg多层膜反射率仅为30%。同步辐射反射曲线拟合结果表明,反射率随着本底真空度降低是由多层膜Mg膜层中的Mg氧化物含量增多造成的。
朱京涛黄秋实白亮蒋晖徐敬王晓强周洪军霍同林王占山陈玲燕
关键词:多层膜反射率磁控溅射
利用功率谱密度函数表征光学薄膜基底表面粗糙度
随着现在光学技术的发展,粗糙度小于1nm的超光滑表面光学元件在紫外和X射线光学、高反射率光学元件的研制、半导体工业中有着越来越广泛的应用。光学基底表面的粗糙度对光学薄膜的性质有着很大的影响,不但影响光学薄膜对基底的附着力...
沈正祥王占山马彬徐敬陈玲燕
文献传递
亚飞秒啁啾Mo/Si多层膜反射镜的设计、制作与性能检测被引量:1
2009年
针对利用高次谐波获取亚飞秒脉冲的实验需求,设计制备了啁啾为-2 800 as2的啁啾Mo/Si多层膜反射镜.数值计算表明,采用所设计的啁啾多层膜反射镜可以获得86 as的脉冲.通过直流磁控溅射方法实现了Mo/Si多层膜样品的制备.在合肥同步辐射上进行了多层膜反射率的测量,在所设计的工作波长内,多层膜的平均反射率为5.6±2.3%.在考虑最上层Si的氧化作用后,对测量曲线进行拟合,得到的反射率曲线和膜层厚度分布分别与测试曲线和设计结果相吻合.
王风丽陈锐王占山徐敬朱京涛张众
关键词:高次谐波磁控溅射反射率
磁控溅射制备横向梯度分布的Mo/Si周期多层膜被引量:7
2011年
采用磁控溅射方法在Si基板上镀制了横向梯度分布的Mo/Si周期多层膜。以X射线掠入射反射测量了横向梯度多层膜的膜系结构,在基板65mm长度范围内,多层膜周期从8.21nm线性减小到6.57nm,周期梯度为0.03nm/mm。国家同步辐射实验室反射率计的反射率测试结果表明:该横向梯度分布周期多层膜上不同位置,能反射在13.3~15.9nm波段范围内不同波长的极紫外光,反射率为60%~65%。
涂昱淳宋竹青黄秋实朱京涛徐敬王占山李乙洲刘佳琪张力
关键词:MO/SI多层膜磁控溅射反射率
用X射线反射测量法表征双层结构中低原子序数材料的特性(英文)被引量:8
2007年
介绍了用X射线反射测量术表征双层薄膜中低原子序数材料特性的方法。由于低原子序数材料的光学常数与Si基板材料的光学常数非常接近,用X射线反射法确定镀制在Si基板上的低原子序数材料膜层结构的变化十分困难,因此,提出了在镀制低原子序数材料前,首先在基板上镀制一层非常薄的金属层的方法。实验中,选用Cr作为金属层材料,制备并测试了三种不同C膜镀制时间的Cr/C双层薄膜。反射率曲线拟合结果表明,C膜密度约为2 .25 g/cm3,沉积速率为0 .058 nm/s。
徐垚王占山徐敬张众王洪昌朱京涛王风丽王蓓秦树基陈玲燕
关键词:X射线衍射仪
有机铁电P(VDF-TrFE)膜的铁电开关特性
2006年
借助原子力显微镜优异的空间分辨能力和微观压电铁电测定技术,研究了有机铁电P(VDF-TrFE)膜的微观铁电开关特性.结果表明,当激励电压的峰值高于材料矫顽电压时,观测到双峰振动现象,双峰振动的出现源自于铁电开关过程;当激励电压幅值略高于材料矫顽电压时,探测到振动双峰的发展过程和局域蝴蝶洄线的不对称生长,蝴蝶洄线左翼的生长速度明显滞后于右翼.当极化时间足够长时,两翼的生长达到饱和,呈现出对称结构.电极结构的不对称性(金、铝电极)导致陷阱电荷注入铁电膜内部的速率不同,从而产生不对称的蝴蝶洄线生长过程.空间电荷在有机聚合物铁电性形成过程中有重要的贡献.
朱国栋徐敬曾志刚张莉
关键词:有机高分子材料铁电原子力显微镜电极效应
聚偏氟乙烯分子链旋转时势能的变化被引量:3
1999年
计算了聚偏氟乙烯分子链旋转时势能的变化.结果显示,当中心分子链旋转而其它链静止不动时,计算得到的势能曲线有4 个很高的势垒,这些势垒来源于中心分子链和最近邻分子链中的氟原子对的“空间位阻”效应.这一结果与“六阱势”模型预言的势能变化存在准六度对称性相矛盾.计算结果表明,如果中心分子链和周围分子链同步旋转,势垒高度将极大地降低.另外,极化反转时晶格常数发生变化.最后得到的势垒高度约为75 k J/ mol.与室温下的分子热运动的能量( 约25 k J/ m ol) 相比,这样的“浅”势阱不足以锁定分子偶极矩形成稳定的自发极化方向.推得有机铁电材料自发极化的形成必然有其它外界因素参加.
徐敬李杰
关键词:聚偏氟乙烯压电效应
磁控溅射制备Ni/Ti多层膜表面粗糙度被引量:5
2010年
采用磁控溅射方法制备了周期数分别为10,30,50和75的Ni/Ti多层膜,利用X射线掠入射反射测量了多层膜表面和界面的状态,并用原子力显微镜测量了多层膜的表面粗糙度,研究了不同周期数的Ni/Ti多层膜表面粗糙度的变化规律。结果表明:Ni/Ti多层膜表面粗糙度随着膜层数增加而增加,当Ni/Ti多层膜的周期数从10变化到75时,其表面粗糙度由0.80 nm增大到1.69 nm。实验数据拟合表明:Ni/Ti多层膜表面粗糙度与周期数成3次方关系;但在周期数较小时,粗糙度与周期数成线性关系。
潘磊朱京涛王晓强蒋励李浩川徐敬张众王占山陈玲燕
关键词:粗糙度原子力显微镜
30.4 nm波长处Mg基多层膜反射镜被引量:4
2009年
太阳光谱中重要的He-Ⅱ谱线(波长30.4 nm)的观测对于研究太阳活动和日地空间环境具有重要意义,实现空间极紫外太阳观测需要采用多层膜作为反射元件。研究了工作在30.4 nm的Mg基多层膜。以反射率最高为评价函数设计了多层膜,采用直流磁控溅射技术制备了SiC/Mg,B_4C/Mg和C/Mg多层膜,用X射线衍射仪测量了多层膜的结构。研究表明虽然B_4C/Mg多层膜理论反射率最高,但实际制备结果显示,SiC/Mg多层膜的成膜质量最好,反射率最高。同步辐射反射率测量表明:在入射角10°时实测的SiC/Mg多层膜反射率为44.6%。
白亮朱京涛徐敬黄秋实吴文娟王晓强王占山陈玲燕
关键词:薄膜光学多层膜磁控溅射极紫外反射率
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