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顾晓东

作品数：2 被引量：5H指数：1
供职机构：新疆石油学院更多>>
相关领域：金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇金属学及工艺

主题

  • 1篇电子谱
  • 1篇镀铬
  • 1篇多层膜
  • 1篇氧化层
  • 1篇光电
  • 1篇光电子
  • 1篇XPS
  • 1篇XPS研究
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线光电子...
  • 1篇AR

机构

  • 2篇云南大学
  • 2篇新疆石油学院
  • 1篇桂林电子工业...
  • 1篇洛阳工学院

作者

  • 2篇蒋仕级
  • 2篇顾晓东
  • 1篇陈庆东
  • 1篇成钢

传媒

  • 1篇云南大学学报...
  • 1篇新疆石油学院...

年份

  • 2篇1998
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
利用XPS测多层膜厚度被引量：1
1998年
本文利用空心阴极离子镀膜技术制备了纯Cr膜（基底为硅片），利用XPS分析技术，得出在Cr膜表面存在一层氧化层，并测出了其厚度。
顾晓东蒋仕级
关键词：X射线光电子谱多层膜镀铬
Cr薄膜氧化过程的AR-XPS研究被引量：4
1998年
应用空心阴极离子镀（ＨＣＤ）技术在玻璃基片上镀一层均匀纯Ｃｒ薄膜．用角分辨ＸＰＳ（ＡＲＸＰＳ）方法对Ｃｒ薄膜在Ｔ＝３００Ｋ，ｐ＝１．３×１０５Ｐａ条件下的氧化层厚度进行测定，数据用最小二乘法处理．Ｃｒ薄膜氧化０．５ｈ后，其氧化层厚度约为０．７５ｎｍ，３０ｄ以后其氧化层厚度约为３．１２ｎｍ．
成钢陈庆东顾晓东蒋仕级
关键词：氧化层
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共1页<1>
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