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文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇环境科学与工...
  • 1篇理学

主题

  • 3篇单晶
  • 3篇砷化镓
  • 2篇单晶生长
  • 2篇砷化镓材料
  • 2篇位错
  • 2篇位错密度
  • 2篇VGF
  • 1篇载流子
  • 1篇载流子浓度
  • 1篇漂移速度
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  • 1篇半绝缘
  • 1篇半绝缘砷化镓
  • 1篇EPD
  • 1篇GAAS单晶
  • 1篇GAAS晶体
  • 1篇LEC
  • 1篇HB

机构

  • 4篇中国电子科技...

作者

  • 4篇孙强
  • 4篇兰天平
  • 2篇周春锋
  • 2篇牛沈军
  • 2篇王建利
  • 1篇周春峰
  • 1篇李仕福
  • 1篇周传新
  • 1篇刘津

传媒

  • 2篇天津科技
  • 1篇人工晶体学报
  • 1篇科技创新导报

年份

  • 2篇2015
  • 1篇2010
  • 1篇2007
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
砷化镓材料被引量:8
2010年
文章介绍了Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料——砷化镓。从砷化镓材料的基本性质、参数出发,深入浅出地讨论了其相关性质形成的机理,以及与这些性质、参数相对应的有关半导体器件方面的应用情况,同时指出了为了适应器件的需求,如何在制造过程中得到性能参数较为理想的晶体材料而应采取的有关工艺措施。
王建利牛沈军兰天平周春峰孙强
关键词:砷化镓载流子浓度
VB法生长低位错GaAs单晶被引量:4
2007年
用于激光二极管(LD)和发光二极管(LED)的GaAs晶片,要求其具有低的位错密度(EPD)。为了获得低位错密度的GaAs晶片,必须先得到低位错密度的体单晶。我们采用垂直布里奇曼(VB)法分别得到了2英寸和3英寸的GaAs单晶,单晶长度可达10cm,平均位错密度5000cm-2。通过改变加热器结构,改善轴向和径向的温度梯度,优化了生长时的固液界面,得到的单晶长度达20cm,平均位错密度为500cm-2,最大位错密度小于5000cm-2。
王建利孙强牛沈军兰天平李仕福周传新刘津
关键词:位错密度GAAS晶体温度梯度
砷化镓材料技术发展及需求被引量:11
2015年
介绍了HB、LEC、FEC、VCZ、VB、VGF砷化镓单晶炉及生长技术,分析了各种生长技术的优缺点及发展趋势。HB砷化镓多晶合成和单晶生长可以同时完成,生长温度梯度小、位错小、应力小;其缺点为不易生长半绝缘砷化镓单晶材料。LEC法生长过程可见,成晶情况可控,可生长大尺寸、长单晶;其缺点是晶体温度梯度大、位错密度高、应力高、晶体等径控制差。VB/VGF法生长出的单晶位错密度和残留应力比LEC法低,晶体等径好,适合规模生产;其缺点在于容易产生双晶、线性缺陷和花晶,过于依赖生长系统重复性和稳定性。
周春锋兰天平孙强
关键词:砷化镓单晶生长HBLECVGF
VCSEL阵列用半绝缘砷化镓单晶生长工艺研究
2015年
VCSEL(垂直腔面发射激光器)阵列是一种面发射的化合物半导体有源器件,已广泛应用于激光制导、激光测距等军事电子领域。为了减少发射单元之间的高频串扰,VCSEL阵列必须生长在高电阻率和低位错密度的砷化镓衬底上。通过采用VGF(垂直梯度冷凝法)生长7.62 cm砷化镓单晶,并选取合适的温度梯度(4℃/cm左右)和低位错籽晶,同时掺入一定剂量的高纯碳粉并选用适量的无水氧化硼作为液封剂,成功地研制出低位错密度的7.62 cm半绝缘砷化镓单晶材料。
孙强兰天平周春锋
关键词:单晶生长半绝缘
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