您的位置: 专家智库 > >

卢网平

作品数:11 被引量:53H指数:5
供职机构:扬州大学物理科学与技术学院更多>>
发文基金:江苏省教育厅自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:电气工程理学一般工业技术化学工程更多>>

文献类型

  • 9篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 8篇电气工程
  • 7篇一般工业技术
  • 7篇理学
  • 2篇化学工程

主题

  • 9篇铁电
  • 8篇掺杂
  • 7篇电性能
  • 7篇LA掺杂
  • 6篇陶瓷
  • 5篇铁电性
  • 5篇铁电性能
  • 4篇镧掺杂
  • 4篇SRBI
  • 3篇铁电材料
  • 3篇相变
  • 3篇相变温度
  • 3篇介电
  • 3篇介电性
  • 3篇介电性能
  • 3篇晶格
  • 3篇晶格畸变
  • 2篇氧空位
  • 2篇陶瓷材料
  • 2篇陶瓷性能

机构

  • 11篇扬州大学

作者

  • 11篇卢网平
  • 11篇陈小兵
  • 9篇朱骏
  • 9篇惠荣
  • 6篇毛翔宇
  • 4篇刘秋朝
  • 4篇陆文峰
  • 1篇张增平
  • 1篇徐锐
  • 1篇羌锋
  • 1篇沈柏清

传媒

  • 3篇物理学报
  • 3篇扬州大学学报...
  • 2篇哈尔滨理工大...
  • 2篇2003年第...
  • 1篇功能材料

年份

  • 1篇2005
  • 2篇2004
  • 6篇2003
  • 2篇2002
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
La,V掺杂对Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)性能影响对比研究被引量:1
2005年
采用传统固相烧结工艺,制备了掺杂量分别为0.000~1.000,0.000~0.096的La,V掺杂Sr2Bi4Ti5O18铁电陶瓷.X射线衍射结果显示,La,V对Sr2Bi4Ti5O18的A,B位掺杂都未影响材料的晶体结构.La掺杂使得材料的剩余极化2Pr逐渐降低,而V掺杂可以显著地提高2Pr.A位掺杂导致材料的居里温度明显下降,而V取代B位Ti4+离子不影响材料的居里温度.微观照片显示,Sr2Bi4Ti5O18样品由呈四方状的晶粒组成,晶粒较为均匀.La掺杂未改变晶粒的形状,而V掺杂使得晶粒呈现扁平状,且晶粒尺寸明显增大.
张增平卢网平陈小兵
关键词:掺杂晶格畸变晶粒尺寸
La掺杂SrBi_4Ti_4O_(15)铁电材料性能研究被引量:21
2003年
按x=0 0 0 ,0 10 ,0 2 5 ,0 5 0 ,0 75和 1 0 0 ,采用固相烧结工艺 ,制备了不同La掺杂量的SrBi4-xLaxTi4O1 5的陶瓷样品 .用x射线衍射对其微结构进行了分析 ,并测量了铁电、介电性能 .结果发现 ,La掺杂未改变SrBi4Ti4O1 5的晶体结构 .随掺杂量的增加 ,样品的矫顽场 (Ec)下降 ,剩余极化 ( 2Pr)先增大 ,后减小 .在x =0 2 5时 ,2Pr 达到极大值 ,为2 4 2 μC·cm- 2 ,这时Ec=60 8kV·cm- 1 ,与SrBi4Ti4O1 5相比 ,2Pr 增加了近 5 0 % ,而Ec 下降了近 2 5 % ,材料铁电性能显著提高 .SrBi4-xLaxTi4O1 5的相变温度Tc 随x的增加逐渐降低 ,x =0 2 5时 ,Tc=45 1℃ .在x =0 75 ,1 0 0时 。
朱骏卢网平刘秋朝毛翔宇惠荣陈小兵
关键词:LA掺杂镧掺杂铁电材料铁电随机存储器SRBI4TI4O15
La掺杂诱发层状钙钛矿型铁电体弛豫性相变的介电研究被引量:19
2004年
制备了La掺杂层状钙钛矿铁电体材料SrBi4 Ti4 O1 5,Sr2 Bi4 Ti5O1 8以及共生结构Bi4 Ti3O1 2 SrBi4 Ti4 O1 5,通过研究样品的变温介电特性发现 ,SrBi4 -xLaxTi4 O1 5(x=1 0 ) ,Sr2 Bi4 -xLaxTi5O1 8(x≥ 0 5 ) ,(Bi,La) 4Ti3O1 2 Sr(Bi,La) 4Ti4 O1 5(x=1 5 0 )样品的介电常数随温度变化曲线都具有弛豫性相变特征 ,La含量的变化对介电温度特性曲线有重要影响 ,随着La含量的增加 ,其弛豫程度明显增加 .弛豫的起源与La离子的存在引起局域出现的微畴有关 ,而正常铁电体—弛豫铁电体自发相变相对应的微观机理是正常铁电体的宏畴向弛豫铁电体微畴的转变 .
惠荣朱骏卢网平毛翔宇羌锋陈小兵
关键词:镧掺杂层状钙钛矿铁电体介电性能弛豫铁电体
Dy掺杂Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷的介电性能被引量:1
2004年
采用固相烧结工艺制备了Sr2Bi4-xDyxTi5O18(x=0,0.25)陶瓷样品,用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了样品的铁电、介电性能.Sr2Bi3.75Dy0.25Ti5O18样品的X射线谱上出现SrTiO3衍射峰,其介电损耗随温度的关系曲线上存在明显的弛豫损耗峰P ,该损耗峰的激活能为0.4eV,可以确定该峰是由氧空位引起的.结果表明:离子半径较小的Dy3+很难进入类钙钛矿层,造成样品中大量的A位空位,使得氧空位浓度增加.氧空位的存在会导致很强的畴钉扎,从而极化降低.
徐锐沈柏清卢网平陈小兵
关键词:铁电陶瓷介电损耗激活能氧空位
Sr<,2>Bi<,4-x>La<,x>Ti<,5>O<,18>铁电陶瓷性能的研究
采用固相烧结工艺制备了Sr<,2>Bi<4-x>La<,x>Ti<,5>O<,18>(x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75,1.00)陶瓷样品.用X射线衍射仪对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能...
卢网平朱骏惠荣陆文峰陈小兵
文献传递
SrBi<,4-x>La<,x>Ti<,4>O<,15>陶瓷材料铁电、介电性能研究
按x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75和1.00,制备SrBi<,4-x>La<,x>Ti<,4>O<,15>的陶瓷样品.用X射线衍射对其微结构进行分析,并测量了铁电、介电性能.结果表明,La掺杂未改变S...
朱骏卢网平刘秋朝毛翔宇惠荣陈小兵
关键词:LA掺杂铁电性能相变温度陶瓷材料
文献传递
SrBi_(4-x)La_xTi_4O_(15)陶瓷材料铁电、介电性能研究被引量:1
2002年
按x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75和1.00,制备SrBi_4-xLa_xTi_4O_15的陶瓷样品.用X射线衍射对其微结构进行分析,并测量了铁电、介电性能.结果表明,La掺杂未改变SrBi_4Ti_4O_15的晶体结构;随掺杂量的增加,样品的矫顽场(E_c)减小,剩余极化(2P_r)先增大,后减小;在x=0.25时,2P_r达到极大值24.2μC·cm^-2,这时E_c=60.8 kV·cm^-1适量La掺杂可提高SrBi_4Ti_4O_15的铁电性能.SrBi_4-xLa_xTi_4O_15的相变温度T_c随x的增加逐渐降低,x=0.25时,T_c=451℃.
朱骏卢网平刘秋朝毛翔宇惠荣陈小兵
关键词:陶瓷材料LA掺杂铁电性能相变温度镧掺杂
Bi含量对SrBi_4Ti_4O_(15)铁电材料性能的影响被引量:6
2003年
SrBi 4 Ti 4O 15 ceramics samples with different Bi content of which mole radio, n (Sr): n (Bi): n (Ti):,is 1:4(1+x):4(x=-0.05,0,0.05,0.10,0.15,0.20),are prepared by solid-state reaction method.Their structure is analyzed by X-ray diffraction,and their dielectricity and ferroelectricity are measured.Results show that pure SrBi 4 Ti 4O 15 pahase exists in the samples whith x=0.05 and 0.10.The sintered ceramics with x=0.05 have good ferroelectric and dielectric properties:The remnant polarization (2 P r) and coercive field ( E c) are 2.86×10 -9 C·m -2 and 8.65×10 6V·m -1 .The dielectric constant (ε r) changes litter in the range from 1 kHz to 4MHz,and ε r is 425 at the frequency of 1 MHz.
朱骏毛翔宇卢网平惠荣陆文峰陈小兵
关键词:介电性能铁电性能
Sr_2Bi_(4-x)La_xTi_5O_(18)铁电陶瓷性能的研究
2002年
采用固相烧结工艺制备了Sr_2Bi_4-xLaxTi_5O_18(x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75,1.00)陶瓷样品.用X射线衍射仪对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能.结果表明,随着La含量的增加,样品的剩余极化P_r和矫顽场E_c逐渐减小,这是由于La掺杂使得样品晶格畸变变小,从而导致剩余极化的降低.相变温度T_c随着La含量的增加而降低,这也与样品晶格畸变有关.
卢网平朱骏惠荣陆文峰陈小兵
关键词:铁电陶瓷晶格畸变铁电性能镧掺杂LA掺杂
La掺杂对Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)铁电陶瓷性能的影响被引量:12
2003年
 利用传统的固相烧结工艺制备了Sr2LaxBi4-xTi5O18(x=0.00、0.05、0.1、0.25、0.5、0.75、1.00)陶瓷样品。用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能。X射线衍射结果表明La掺杂对Sr2Bi4Ti5O18的晶体结构几乎没有影响。样品的铁电、介电结果表明,随着La掺杂量的增加,样品的剩余极化(2Pr)和矫顽场(Ec)逐渐减小,这是由于离子半径较大的La取代类钙钛矿层A位Bi离子,使得样品晶格畸变变小,从而导致2Pr降低,晶格畸变的减小也使得沿着外电场方向氧八面体中的阳离子更易运动,导致Ec减小。样品的相变温度Tc随着La含量的增加而降低,这也与样品晶格畸变有关。
卢网平朱骏惠荣陆文峰陈小兵
关键词:铁电陶瓷铁电性能氧空位晶格畸变相变温度掺杂
共2页<12>
聚类工具0