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瞿力文

作品数：7 被引量：0H指数：0
供职机构：华中科技大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 7篇相变存储
  • 5篇相变存储器
  • 5篇芯片
  • 5篇存储器
  • 4篇存储器芯片
  • 2篇电阻
  • 2篇信号发生器
  • 2篇数字I/O
  • 2篇相变
  • 2篇小写
  • 2篇脉冲幅度
  • 2篇脉冲信号
  • 2篇脉冲信号发生...
  • 2篇化学性能
  • 2篇键合
  • 2篇管壳
  • 2篇发生器
  • 2篇封装
  • 2篇封装方法
  • 2篇测试装置

机构

  • 7篇华中科技大学

作者

  • 7篇瞿力文
  • 6篇李震
  • 6篇缪向水
  • 4篇张乐
  • 2篇陈伟
  • 2篇彭菊红

年份

  • 3篇2014
  • 2篇2012
  • 2篇2011
共 7 条 记 录，以下是 1-7
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排序方式：
相变存储器芯片的封装方法
本发明公开了相变存储器芯片的封装方法，具体为：首先将需要封装的芯片固定在封装管壳内，然后采用超声键合技术将芯片的电极与管壳的引脚一一相连，最后使用屏蔽盖将其与外界隔离。本发明由于超声键合不需要一个临界键合温度，可在常温下...
缪向水李震陈伟瞿力文
一种相变存储单元阵列的测试装置
本发明公开了一种相变存储单元的测试装置，装置包括信号发生器、测量模块、转换连接接口、探针台、控制器、单元阵列接口电路和数字示波器；通过控制器施加控制信号，通过信号发生器施加激励信号，通过测量模块或示波器采集信号完成对相变...
缪向水瞿力文张乐彭菊红李震
文献传递
一种相变存储器芯片测试方法及其系统
本发明公开了一种相变存储器芯片测试方法及系统。所述的相变存储器芯片测试方法能准确的测量相变存储器芯片的读写电路、选通电路、寻址能力、随机读写、抗串扰能力、初值检测和寻找合适擦写脉冲参数；所述的测试系统是由主控计算机，控制...
李震张乐瞿力文缪向水
相变存储器测试方法及测试系统的研究
相变存储器是利用脉冲电流的热效应使其记录层发生具有巨大阻值差异的可逆结构相变来记录和擦除数据。它具有非易失性、快擦写速度、高可靠性、低功耗、长寿命、制作工艺简单和与CMOS工艺兼容等优点，被视作为目前最有可能成为下一代存...
瞿力文
关键词：数据存贮相变存储器芯片设计CMOS工艺
一种相变存储单元阵列的测试装置
本发明公开了一种相变存储单元的测试装置，装置包括信号发生器、测量模块、转换连接接口、探针台、控制器、单元阵列接口电路和数字示波器；通过控制器施加控制信号，通过信号发生器施加激励信号，通过测量模块或示波器采集信号完成对相变...
缪向水瞿力文张乐彭菊红李震
相变存储器芯片的封装方法
本发明公开了相变存储器芯片的封装方法，具体为：首先将需要封装的芯片固定在封装管壳内，然后采用超声键合技术将芯片的电极与管壳的引脚一一相连，最后使用屏蔽盖将其与外界隔离。本发明由于超声键合不需要一个临界键合温度，可在常温下...
缪向水李震陈伟瞿力文
文献传递
一种相变存储器芯片测试方法
本发明公开了一种相变存储器芯片测试方法及系统。所述的相变存储器芯片测试方法能准确的测量相变存储器芯片的读写电路、选通电路、寻址能力、随机读写、抗串扰能力、初值检测和寻找合适擦写脉冲参数；所述的测试系统是由主控计算机，控制...
李震张乐瞿力文缪向水
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