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文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 1篇质谱
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  • 1篇投影显示系统
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  • 1篇辉光放电质谱
  • 1篇辉光放电质谱...
  • 1篇激光
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  • 1篇大屏幕
  • 1篇大屏幕显示

机构

  • 2篇中国科学院上...

作者

  • 2篇范正修
  • 2篇杨健
  • 2篇邵建达
  • 1篇姚李英
  • 1篇汤兆胜
  • 1篇易葵
  • 1篇范瑞瑛
  • 1篇袁景梅

传媒

  • 2篇光学学报

年份

  • 1篇2004
  • 1篇2002
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
应用于投影显示系统的偏振分光镜的设计和制备被引量:21
2002年
讨论了应用于投影显示系统的满足宽光谱范围、大的入射角、高的消光比的偏振分光镜的设计和制备。提出了一种偏振分光镜的新的设计方法 :采用多对迈克尼尔对组合来满足宽入射角范围的要求 ,采用多个中心波长不同的λ 4膜堆来满足宽光谱范围。设计的偏振分光镜在 42 0nm~ 6 70nm的波段范围内 ,在 41.34°~ 48.6 6°的入射角范围内 ,达到p偏振光的平均透过率大于 85 % ,p偏振光的平均透过率与s光的平均透过率之比大于 10 0 0。
姚李英易葵杨健汤兆胜邵建达范正修
关键词:大屏幕显示
HfO_2中ZrO_2含量对266nmHfO_2/SiO_2多层膜反射率的影响被引量:4
2004年
用两种不同纯度的HfO2 材料与同一纯度的SiO2 材料组合 ,沉积λ/ 4规整膜系 (HL) 11H形成 2 6 6nm的紫外反射镜 ,发现反射率相差 0 .7%左右。用X光电子能谱法分析了高反膜中表层HfO2 中的成分 ,发现ZrO2 的含量相差一个数量级左右。为确定形成这种差别的原因 ,用辉光放电质谱法测定了这两种HfO2 材料中锆 (Zr)及其钛(Ti)、铁 (Fe)的含量 ,发现Zr是其中的最主要的杂质 ,两种HfO2 材料中Zr含量有一个数量级的差别。说明在 2 6 6nm波段 ,HfO2 中ZrO2 的含量会对HfO2 /SiO2 高反膜的反射率造成影响。根据HfO2 单层膜的光谱曲线 ,推算出了这两种材料的消光系数的差别 ,并用Tfcalc膜系设计软件进行理论和镀制结果的模拟 ,得到与实验测试一致的结果。
袁景梅范瑞瑛杨健邵建达范正修
关键词:光学性质辉光放电质谱法激光薄膜
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