严鲁明
- 作品数：13 被引量：15H指数：2
- 供职机构：合肥工业大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信环境科学与工程交通运输工程更多>>
- 基于构件相关性的构件交互冲突检测研究
- 基于构件的软件开发作为一种新的软件开发方式在软件开发过程中得到了广泛的使用。该方法通过对已有构件的组装来开发新的应用软件，而应用软件的功能是通过其内部组成构件之间的交互来实现的。构件是由不同构件开发者封装，能够完成特定功...
- 严鲁明
- 文献传递
- 基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法
- 集成电路工艺水平提高的同时，老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究，提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行为特征，采用冗余的时序单元对数据路径进行加固，并通过多时钟...
- 严鲁明梁华国黄正峰徐辉刘彦斌史冬霞
- 关键词：可靠性
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- 一种针对老化的改进的多米诺门
- 高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路，而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了带有补偿晶体管的多米诺或门结构，通过开启补偿电路，使电路在老化以后仍然能够保持其抗干扰能力和传...
- 徐辉梁华国黄正峰李扬严鲁明常郝
- 关键词：多米诺电路
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- 一种容忍老化的多米诺门被引量：2
- 2012年
- 负偏置温度不稳定性引起的晶体管老化已经成为影响集成电路可靠性的重要因素。高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路,而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了保持器和反相器均带有补偿晶体管的多米诺或门结构,通过开启补偿电路,使电路在老化以后仍然能够保持其抗干扰能力和传输延时,有效的延长了多米诺电路的使用寿命。
- 徐辉梁华国黄正峰汪静李志杰李扬严鲁明
- 关键词：多米诺电路保持器
- 数字电路老化失效预测与防护技术研究
- 工艺尺寸的急剧缩小,使得数字电路的性能得到了大幅度的提高。但是与此同时,也给数字电路的可靠性问题带了更多新的挑战。纳米工艺条件下,老化是影响数字电路可靠性的主要问题之一。老化会导致晶体管阈值电压升高,逻辑门单元翻转速度减...
- 严鲁明
- 关键词：可靠性
- 文献传递
- 基于自振荡回路的电路老化测试方法
- 本发明公开了一种基于自振荡回路的电路老化测试方法，其特征是：根据静态时序分析和路径间相关性，选取待测电路中的老化特征通路集合T；保持老化特征通路集合T中各条待测路径上具有奇数次逻辑非，形成自振荡的回路；采用固定型故障的测...
- 梁华国严鲁明蒋翠云黄正峰易茂祥欧阳一鸣陈田刘军
- 文献传递
- 基于逻辑门类型的老化路径约减算法被引量：1
- 2014年
- 随着CMOS集成电路工艺尺寸的不断缩小,电路可靠性问题日益严重,而由NBTI效应引起的电路老化问题尤其突出。由于实际电路大多比较复杂,路径较多,如果对所有路径进行老化预测,工作量会非常大。针对这一实际难题提出了一种基于电路路径中门种类和数目的迭代算法,用来划分和约减电路中不受老化影响电路功能的电路路径。该方法根据路径中每类门的数目和门种类对电路老化的不同影响程度将电路路径进行分类,约减掉不需要预测老化的路径,减少了老化预测的工作量,提高了电路老化预测的效率。
- 邢璐梁华国严鲁明张丽娜余天送
- 关键词：电路可靠性
- 基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法被引量：10
- 2013年
- 集成电路工艺水平进入深亚微米时代后,电路老化效应已成为威胁电路可靠性的新挑战。对电路老化导致的电路失效防护问题进行研究,提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法。该方法根据老化的行为特征,通过冗余的时序单元对数据路径进行加固,并采用多时钟技术控制时序单元的采样过程。当电路出现因老化导致的时序错误时,通过冗余时序单元的二次采样纠正电路错误信号;同时,统一调整电路的时钟相位,保证每条数据路径都满足时序要求,防止电路失效的发生。方法在ISCAS'89基准电路中进行了测试。实验数据表明:在冗余时钟相位差达到时钟周期的20%时,该方法可以有效的将电路的平均故障间隔时间(MTTF)提高1倍以上。
- 严鲁明梁华国黄正峰
- 关键词：可靠性
- 基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法
- 集成电路工艺水平提高的同时，老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究，提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行为特征，采用冗余的时序单元对数据路径进行加固，并通过多时钟...
- Luming Yan严鲁明Huaguo Liang梁华国Zhengfeng Huang黄正峰Hui Xu徐辉Yanbin Liu刘彦斌Dongxia Shi史冬霞
- 关键词：集成电路
- 一种低开销的抗辐射加固D触发器设计
- 随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,辐射引起的软错误已经成为影响芯片可靠性的重要因素之一.为了减轻辐射环境中D触发器受单粒子翻转的影响,本文实现了一种低开销的加固触发器(LHFF).该结构是基于时间延时的异构双模冗余设计,针...
- 史冬霞黄正峰严鲁明梁华国
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