史冬霞
- 作品数：8 被引量：1H指数：1
- 供职机构：合肥工业大学更多>>
- 发文基金：国家教育部博士点基金国家自然科学基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
- 相关领域：电子电信文化科学自动化与计算机技术更多>>
- 脉冲激光沉积制备ZnO电致发光器件的研究进展
- 2010年
- 电致发光器件具有广阔的应用前景。而ZnO具有优良的发光特性,已成为制备电致发光器件材料的研究热点。近年来人们一直积极探索利用各种工艺方法制备ZnO电致发光器件,希望获得发光效率高的器件,其中利用脉冲激光沉积(PLD)法制备ZnO电致发光器件成为备受关注的课题,本文综述了用脉冲激光沉积制备ZnO电致发光器件的研究进展,包括ZnO同质结器件和ZnO异质结器件。
- 史冬霞梁齐周思林王亚飞李坤明牛少华
- 关键词：ZNO脉冲激光沉积电致发光
- 基于多路复用的老化预测电路设计研究
- 随着超大规模集成电路的飞速发展，集成电路的工艺尺寸不断减小，从而使晶体管更容易老化。本文介绍了一种预测老化电路，检测电路中的PMOS管在不工作的情况下关闭，降低了PMOS管的老化速度;主要研究将检测电路应用到多路复用中，...
- 刘彦斌秦晨飞梁华国黄正峰史冬霞
- 关键词：集成电路电路设计多路复用
- 一种低开销的抗辐射加固D触发器设计
- 随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,辐射引起的软错误已经成为影响芯片可靠性的重要因素之一.为了减轻辐射环境中D触发器受单粒子翻转的影响,本文实现了一种低开销的加固触发器(LHFF).该结构是基于时间延时的异构双模冗余设计,针...
- 史冬霞黄正峰严鲁明梁华国
- 文献传递网络资源链接
- 基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法
- 集成电路工艺水平提高的同时，老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究，提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行为特征，采用冗余的时序单元对数据路径进行加固，并通过多时钟...
- 严鲁明梁华国黄正峰徐辉刘彦斌史冬霞
- 关键词：可靠性
- 文献传递网络资源链接
- 一种低开销的抗辐射加固D触发器设计
- 随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,辐射引起的软错误已经成为影响芯片可靠性的重要因素之一.为了减轻辐射环境中D触发器受单粒子翻转的影响,本文实现了一种低开销的加固触发器(LHFF).该结构是基于时间延时的异构双模冗余设计,针...
- Shi Dongxia史冬霞Huang Zhengfeng黄正峰Yan Luming严鲁明Liang Huaguo梁华国
- 关键词：D触发器抗辐射加固单粒子翻转
- 数字集成电路老化预测及单粒子效应研究
- 随着晶体管工艺尺寸的不断缩小,集成电路的可靠性成为设计研究中的重要课题。而以负偏置温度不稳定性(Negative Bias Temperature Instability,NBTI)为代表的老化效应和辐射环境下导致的单粒...
- 史冬霞
- 关键词：数字集成电路单粒子效应
- 文献传递
- 基于GG-NMOS和二极管的片上ESD防护电路
- ESD问题随着工艺尺寸不断减小而变得日益突出，本篇文章主要实现了基于片上系统的二极管和栅接地NMOS管两种ESD防护电路，通过对两种ESD防护电路的分析与比较，并运用TCAD器件仿真软件模拟两种电路，得到两种防护电路的最...
- 刘彦斌黄正峰梁华国史冬霞严鲁明
- 关键词：性能评价
- 基于多路复用的老化预测电路设计研究
- 随着超大规模集成电路的飞速发展,集成电路的工艺尺寸不断减小,从而使晶体管更容易老化。本文介绍一种预测老化电路,检测电路中的PMOS管在不工作的情况下关闭,降低了PMOS管的老化速度;主要研究将检测电路应用到多路复用中,通...
- 刘彦斌秦晨飞梁华国黄正峰史冬霞
- 关键词：多路复用电路设计
- 文献传递
