何一平
- 作品数：3 被引量：45H指数：2
- 供职机构：中国科学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学电子电信更多>>
- ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量被引量：28
- 2002年
- 采用正入射的方法研究了生长在硅基片上的氧化锌薄膜的反射光谱,测量出氧化锌薄膜的光学吸收边在370nm,所对应的能量值为3 35eV。测量生长在石英玻璃基片上的氧化锌薄膜的透射光谱,得到相同的吸收边。表明ZnO薄膜的光学禁带宽度与体材料的禁带宽度一致。反射谱中,在550～600nm之间观察到一个吸收峰,吸收峰的位置以及吸收边的陡峭程度都随薄膜的结晶状况的不同而有所不同。
- 傅竹西林碧霞何一平廖桂红
- 关键词：ZNO薄膜反射光谱透射光谱禁带宽度氧化锌薄膜
- ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量
- ZnO是近年来发展起来的近紫外发光材料.本实验通过反射和透射光谱测量方法来确定ZnO薄膜材料的禁带宽度和局域能级.
- 傅竹西林碧霞何一平廖桂红
- 关键词：ZNO薄膜光谱测量禁带宽度局域能级
- 文献传递
- ZnO薄膜光学常数测量被引量：18
- 2004年
- 利用Kramers-Kronig方法(K-K方法)测量了ZnO薄膜的复分电常数和复折射率(折射率和消光系数)。为了满足K-K方法所要求的条件,光源发出的光束通过一个特殊设计的中间带孔的反射镜垂直投射到ZnO薄膜表面,在ZnO薄膜表面产生的反射光穿过反射镜中间的小孔进入单色仪,从而测量出正入射情况下ZnO薄膜的反射光谱。对有限波段下测量的数据经合理的外推后,得出全波段的薄膜反射谱,然后利用K-K方法计算出ZnO薄膜的复分电常数和复折射率。实验结果表明,氧化锌薄膜在可见光范围内的折射率近似为一常数3.5;在430 nm附近出现折射率最大值,而在短波长范围所对应的折射率大大降低,其值在0.5～2.5之间起伏波动。
- 傅竹西林碧霞何一平廖桂红
- 关键词：氧化锌薄膜光学常数反射光谱单色仪光电子材料
