您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇化学工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇正交
  • 2篇金刚石
  • 2篇化学镀
  • 2篇刚石
  • 1篇镀镍
  • 1篇氧化钛薄膜
  • 1篇预处理
  • 1篇正交实验
  • 1篇正交试验
  • 1篇金刚石表面
  • 1篇化学镀NI
  • 1篇化学镀镍
  • 1篇NI-MO
  • 1篇TIO_2薄...
  • 1篇ZAO薄膜
  • 1篇-B
  • 1篇TIO2

机构

  • 4篇武汉理工大学

作者

  • 4篇朱选敏
  • 3篇郭爱云
  • 2篇薛亦渝
  • 1篇胡小峰
  • 1篇夏志林
  • 1篇葛春桥
  • 1篇刘桂珍

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇云南化工
  • 1篇真空电子技术

年份

  • 2篇2006
  • 2篇2005
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
电子束蒸发沉积ZAO薄膜正交试验被引量:12
2005年
采用电子束真空蒸发沉积薄膜的方法(EBED)制备了ZnO:A1(ZAO)透明导电薄膜。用正交试验法设计试验,并分析了制备ZAO薄膜的主要影响因素(沉积厚度、沉积速率、基片温度)对薄膜性能(透射率、电阻率)的作用。试验结果表明:采用EBED法沉积制备ZAO薄膜时,沉积速率控制为1nm/s、沉积厚度为800nm、基片温度为250℃,镀膜系统工作稳定,沉积薄膜的性能较好。
郭爱云薛亦渝夏志林朱选敏葛春桥
关键词:ZAO薄膜正交试验
以低价态钛氧化物制备TiO_2薄膜研究被引量:2
2005年
试验以Ti2O3,Ti3O5和TiO2作为初始膜料,在ZZS700-6/G型真空镀膜机上采用O2-离子束辅助蒸发制备氧化钛 薄膜。用XRD检测方法确定各种膜料和薄膜的相成分,并全面地分析了各种膜料的蒸发特性和薄膜;用分光光度计测量薄 膜的透射率,并分析薄膜的光学性能。试验表明,在采用Ti2O3,Ti3O5和TiO2作为蒸发制备氧化钛薄膜时,钛的氧化物中存 在Ti3O5固态同一蒸发相;各种膜料在蒸发时,发生分解,熔池中的物质成分逐渐转变成同一蒸发相成分,最终完全转变成同 一蒸发相。
郭爱云薛亦渝朱选敏胡小峰
关键词:TIO2氧化钛薄膜
金刚石表面化学镀镍沉积速度影响因素分析被引量:2
2006年
研究了以硼氢化钠为还原剂的金刚石表面化学镀N i工艺,重点探讨了镀液主要工艺参数对沉积速度的影响,获得了最佳工艺条件:硼氢化钠1.0 g/L;氯化镍30 g/L;乙二胺60 g/L;温度85℃;pH值13,并用JSM-5610LV型扫描电镜观察了原始金刚石和镀覆后的形貌。
朱选敏刘桂珍郭爱云
关键词:预处理化学镀镍
微米金刚石化学镀Ni-B及Ni-Mo-B工艺研究
本文为微米金刚石化学镀Ni-B及Ni-Mo-B工艺研究.金刚石具有高导热率、低介电系数、高禁带宽度、超高硬度、低摩擦系数等性质,在国民经济的许多部门得到了广泛的应用。但在目前应用的金刚石工具中,人们通常选用低熔点金属(C...
朱选敏
关键词:金刚石正交实验化学镀
文献传递
共1页<1>
聚类工具0