您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇低电源电压
  • 2篇电源电压
  • 2篇混频
  • 2篇混频器
  • 1篇多芯片
  • 1篇多芯片组件
  • 1篇折叠
  • 1篇指令寄存器
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片组件
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇寄存器
  • 1篇JTAG
  • 1篇MCM

机构

  • 3篇湖南大学

作者

  • 3篇罗丕进
  • 2篇张红南
  • 1篇刘晓巍
  • 1篇华孝泉
  • 1篇曾云
  • 1篇赵琼
  • 1篇黄雅攸
  • 1篇张卫青

传媒

  • 2篇湖南大学学报...

年份

  • 1篇2008
  • 1篇2007
  • 1篇2005
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于低电源电压应用的一种混频器的设计
从1958年第一块集成电路诞生以来的40多年中,集成电路已跨越了小、中、大、超大、特大、巨大规模几个台阶,集成度平均每二年提高近3倍,这种进步归功于工艺尺寸的缩小,工艺尺寸缩小在带来集成度提高的同时也带来了很多问题,如器...
罗丕进
关键词:混频器低电源电压
文献传递
多芯片组件(MCM)的可测性设计被引量:1
2005年
为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计.根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试.建立模型进行验证的结果表明:该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95%以上.
张红南赵琼刘晓巍华孝泉罗丕进
关键词:多芯片组件JTAG可测性设计MCM指令寄存器
基于低电源电压混频器的设计被引量:2
2007年
提出了一种适用于低电源电压应用的混频器,其核心部分采用开关跨导形式,使得开关器件导通时的有限开态电阻引起的电压降减小到零,并在输出端采用折叠级联输出,降低了负载电阻引起的直流电压降,达到了在低电源电压下应用的目的.在1.3 V的电源电压下,电路仿真结果显示:转换增益为-11.5 dB,噪声系数为20.648 dBm,1 dB压缩点为-5.764 dBm,三阶交调失真点为4.807 dBm.
张红南罗丕进黄雅攸张卫青曾云
关键词:混频器折叠
共1页<1>
聚类工具0