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沈柏清

作品数:2 被引量:4H指数:1
供职机构:扬州大学物理科学与技术学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学一般工业技术电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电气工程
  • 2篇一般工业技术
  • 2篇理学

主题

  • 2篇电损耗
  • 2篇陶瓷
  • 2篇铁电
  • 2篇介电
  • 2篇介电损耗
  • 1篇点缺陷
  • 1篇电性能
  • 1篇氧空位
  • 1篇介电性
  • 1篇介电性能
  • 1篇激活能
  • 1篇XO
  • 1篇X

机构

  • 2篇扬州大学

作者

  • 2篇沈柏清
  • 2篇陈小兵
  • 1篇孙慧
  • 1篇徐锐
  • 1篇卢网平

传媒

  • 2篇扬州大学学报...

年份

  • 2篇2004
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
Sr_2Bi_(4-x/3)Ti_(5-x)Nb_xO_(18)陶瓷的铁电介电性能被引量:3
2004年
对Sr2Bi4-x/3Ti5-xNbxO18(x=0,0.003,0.018,0.048,0.096)陶瓷样品的铁电和介电性能进行了测量.结果表明,Sr2Bi4Ti5O18样品的剩余极化2Pr为0.22 C·m-2,少量Nb掺杂可使样品的2Pr有明显提高,当x=0.018时,2Pr达到最大为0.34 C·m-2.介电损耗随温度的变化关系曲线上存在P1,P2,P3 3个介电损耗峰,分别在70,230,290℃附近.低温部分的2个损耗峰具有介电弛豫的特征,其弛豫机制被认为是点缺陷与畴界之间的相互作用.通过激活参数的计算以及损耗峰随不同Bi过量的变化,可以确定P1,P2峰的弛豫机制与Sr,Ti空位有关.随着Nb掺杂量的增加,P1,P2峰逐渐降低,表明Nb掺杂降低了样品中缺陷的浓度,从而使得样品的2Pr明显提高.
沈柏清孙慧陈小兵
关键词:铁电陶瓷介电损耗点缺陷
Dy掺杂Sr_2Bi_4Ti_5O_(18)陶瓷的介电性能被引量:1
2004年
采用固相烧结工艺制备了Sr2Bi4-xDyxTi5O18(x=0,0.25)陶瓷样品,用X射线衍射对其微结构进行了分析,并测量了样品的铁电、介电性能.Sr2Bi3.75Dy0.25Ti5O18样品的X射线谱上出现SrTiO3衍射峰,其介电损耗随温度的关系曲线上存在明显的弛豫损耗峰P ,该损耗峰的激活能为0.4eV,可以确定该峰是由氧空位引起的.结果表明:离子半径较小的Dy3+很难进入类钙钛矿层,造成样品中大量的A位空位,使得氧空位浓度增加.氧空位的存在会导致很强的畴钉扎,从而极化降低.
徐锐沈柏清卢网平陈小兵
关键词:铁电陶瓷介电损耗激活能氧空位
共1页<1>
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