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范国华

作品数：4 被引量：6H指数：2
供职机构：南京电子器件研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 3篇微波功率器件
  • 3篇功率器件
  • 1篇砷化镓
  • 1篇可靠性
  • 1篇功率FET
  • 1篇GAAS

机构

  • 4篇南京电子器件...
  • 2篇中国电子产品...
  • 1篇中国赛宝实验...

作者

  • 4篇范国华
  • 3篇来萍
  • 3篇金毓铨
  • 2篇荣炳麟
  • 2篇冯敬东
  • 2篇张晓明
  • 1篇钟志新
  • 1篇李祖华
  • 1篇刘晓平

传媒

  • 2篇固体电子学研...
  • 1篇半导体技术
  • 1篇第九届全国可...

年份

  • 1篇2007
  • 2篇2001
  • 1篇1997
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
GaAs微波功率FET可靠性评价技术研究被引量：4
1997年
为了使GaAs微波功率FET更可靠地应用于重要微波系统，选取高可靠器件生产线生产的CS0531型器件进行加速寿命试验，并研制了专用试验设备。观察到器件n因子随着试验时间有增大的趋势，初始低频噪声值与器件突然烧毁有一定的相关性。这一结果表明低频噪声有可能成为未来评价GaAs器件可靠性的一种方法。该器件失效机构激活能2．45eV，为道温度110℃时，10年平均失效率4Fit，平均寿命75137×1011h。
范国华刘晓平金毓铨吴亚洁颀世惠李祖华
关键词：可靠性功率FET砷化镓
微波功率器件动态寿命试验方法和技术研究
2001年
介绍了对微波功率器件开展的动态加速寿命试验方法和技术的研究。主要阐述了实现振荡式微波动态寿命试验的方法 ,以及不同于常规的对受试功率器件进行内部式加热控温的技术研究。
来萍荣炳麟冯敬东范国华金毓铨钟志新张晓明
关键词：微波功率器件
微波功率器件动态试验系统被引量：2
2007年
为开展微波功率器件动态加速寿命试验,建立了一套由计算机实时监测的微波动态试验系统。采用微带电路剥离以及加热部件与其他电路的隔热连接等方法,实现了对每个器件进行独立的内腔式加热,从而单独提高受试器件环境温度,保证了高温应力下微波动态电路的稳定性和可靠性。同时编制了计算机程序软件,解决了参数校准、参数提取等方面存在的误差修正及提高测试精度等技术问题,实现了对试验过程的实时监测和数据的完整保存。
来萍张晓明荣炳麟冯敬东范国华金毓铨
关键词：微波功率器件
微波功率器件在动态寿命试验中的失效机理
介绍了某型号S波段微波功率器件在动态加速寿命试验中的主要失效模式,分析了失效机理.从失效样品的参数测试结果及解剖分析看,造成器件的主要失效机理是:金属化电极尤其是发射极在电流和温度的共同作用下发生的电迁移失效.这是影响微...
来萍范国华张晓明金毓铨荣炳麟冯敬东
关键词：微波功率器件
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