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张美芸: 作品数：15 被引量：0H指数：0; 供职机构：中国科学院微电子研究所更多>>; 相关领域：自动化与计算机技术电气工程更多>>

合作作者

刘明中国科学院微电子研究所
龙世兵中国科学院微电子研究所
吕杭炳中国科学院微电子研究所
刘琦中国科学院微电子研究所
许晓欣中国科学院微电子研究所

作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域

文献类型

15篇中文专利

领域

2篇自动化与计算...
1篇电气工程

主题

11篇存储器
7篇电压
7篇脉冲
7篇RRAM
4篇电极
4篇中间态
4篇擦除
3篇加载
3篇编程
2篇低阻
2篇电流
2篇电路
2篇电压扫描
2篇电铸
2篇氧化物材料
2篇自然数
2篇细丝
2篇脉冲测试
2篇脉冲宽度
2篇脉冲源

机构

15篇中国科学院微...

作者

15篇刘琦
15篇吕杭炳
15篇张美芸
15篇龙世兵
15篇刘明
14篇许晓欣
12篇李阳
12篇王国明
11篇刘红涛
8篇王明
6篇孙鹏霄
4篇刘若愚

年份

1篇2019
1篇2018
5篇2017
1篇2016
1篇2015
6篇2014

共 15 条记录，以下是 1-10

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排序方式：

一种阻变存储器的制造方法和阻变存储器: 本发明公开了一种阻变存储器的制造方法和阻变存储器，包括：提供第一衬底，并刻蚀出孔洞，沿第一衬底刻蚀有孔洞的表面往内的方向，孔洞的尺寸递减；沉积第一金属薄膜，第一金属薄膜为活性金属薄膜；在所述第一金属薄膜上生长环氧层和设置...; 龙世兵张美芸许晓欣刘琦吕杭炳刘明; 文献传递

一种有效提高阻变存储器耐久性的方法: 本发明公开了一种有效提高阻变存储器耐久性的方法，该方法是在对阻变存储器进行编程操作时，对阻变存储器加载脉冲宽度变化且脉冲高度保持不变的一系列编程小脉冲。利用本发明，可以防止编程过程中，由于脉冲宽度过大，而造成硬击穿，从而...; 龙世兵王国明张美芸李阳许定林王明许晓欣刘红涛吕杭炳刘琦刘明; 文献传递

一种对RRAM存储器保持时间参数进行测试的方法: 本发明公开了一种对RRAM存储器的保持时间参数进行测试的方法，包括：判断RRAM存储器当前所处的状态，根据RRAM存储器所处状态，给RRAM存储器加载用户设定编程电压或擦除电压；加载编程电压时，通过不断地读取通过RRAM...; 龙世兵王国明张美芸李阳许晓欣刘红涛吕杭炳刘琦刘明; 文献传递

对RRAM存储器耐久性参数进行测试的方法: 本发明公开了一种对RRAM存储器耐久性参数进行测试的方法，该方法包括：判断RRAM存储器当前所处的状态，以确定起始向RRAM存储器加载的脉冲是编程脉冲还是擦除脉冲；连续交替的向RRAM存储器加载编程脉冲和擦除脉冲，并在向...; 龙世兵王国明张美芸李阳许晓欣刘红涛吕杭炳刘琦刘明; 文献传递

一种阻变存储器的制造方法和阻变存储器: 本发明公开了一种阻变存储器的制造方法和阻变存储器，包括：提供第一衬底，并刻蚀出孔洞，沿第一衬底刻蚀有孔洞的表面往内的方向，孔洞的尺寸递减；沉积第一金属薄膜，第一金属薄膜为活性金属薄膜；在所述第一金属薄膜上生长环氧层和设置...; 龙世兵张美芸许晓欣刘琦吕杭炳刘明

一种提高RRAM均一性的方法及RRAM器件: 本发明公开了一种提高RRAM均一性的方法及RRAM器件，首先，在衬底上刻蚀锥状结构；其次，在所述锥状结构表面淀积一层金属薄膜，形成下电极；在所述金属下电极上沉积一层氧化物绝缘层，形成阻变层；在所述氧化物层上沉积一层金属薄...; 龙世兵张美芸许晓欣刘琦吕杭炳刘明; 文献传递

一种有效提高阻变存储器耐久性的方法: 本发明公开了一种有效提高阻变存储器耐久性的方法，该方法是在对阻变存储器进行编程操作时，对阻变存储器加载脉冲宽度变化且脉冲高度保持不变的一系列编程小脉冲。利用本发明，可以防止编程过程中，由于脉冲宽度过大，而造成硬击穿，从而...; 龙世兵王国明张美芸李阳许定林王明许晓欣刘红涛吕杭炳刘琦刘明; 文献传递

一种对RRAM器件的脉冲参数进行测试的电路: 本发明公开了一种对RRAM器件的脉冲参数进行测试的电路，包括半导体参数分析仪、脉冲源、探针平台和双通道示波器，半导体参数分析仪作为控制平台，同时连接于探针台和脉冲源，并通过配置脉冲源参数控制脉冲源的波形；示波器是当脉冲源...; 龙世兵王国明张美芸李阳王明许晓欣刘若愚李丛飞刘红涛孙鹏霄吕杭炳刘琦刘明

一种对RRAM存储器脉冲参数进行测试的方法: 本发明公开了一种对RRAM存储器脉冲参数进行测试的方法，包括：判断RRAM器件当前所处的状态，然后在一定电压下根据RRAM器件所处状态产生脉冲宽度L<Sub>l</Sub>=L的擦除脉冲或脉冲宽度H<Sub>1</Sub...; 龙世兵王国明张美芸李阳吕杭炳刘琦刘明; 文献传递

一种对RRAM器件的脉冲参数进行测试的电路: 本发明公开了一种对RRAM器件的脉冲参数进行测试的电路，包括半导体参数分析仪、脉冲源、探针平台和双通道示波器，半导体参数分析仪作为控制平台，同时连接于探针台和脉冲源，并通过配置脉冲源参数控制脉冲源的波形；示波器是当脉冲源...; 龙世兵王国明张美芸李阳王明许晓欣刘若愚李丛飞刘红涛孙鹏霄吕杭炳刘琦刘明; 文献传递

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