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张羽

作品数:4 被引量:6H指数:2
供职机构:四川大学材料科学与工程学院材料科学系更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:理学一般工业技术电子电信金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇理学
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 3篇晶体
  • 3篇红外透过率
  • 2篇单晶
  • 2篇点缺陷
  • 2篇退火
  • 2篇退火研究
  • 1篇单晶生长
  • 1篇单晶体
  • 1篇射线衍射
  • 1篇晶体生长
  • 1篇化学腐蚀
  • 1篇X射线衍射

机构

  • 4篇四川大学

作者

  • 4篇孙永强
  • 4篇陈宝军
  • 4篇朱世富
  • 4篇赵北君
  • 4篇张羽
  • 4篇程江
  • 3篇赵欣
  • 3篇杨慧光
  • 3篇何知宇
  • 1篇梁栋程

传媒

  • 2篇人工晶体学报
  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 2篇2008
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
ZnGeP_2单晶生长温场研究被引量:2
2009年
根据ZnGeP2(ZGP)晶体的生长特性,自行设计组装了三段式独立控温生长炉,优化了温场分布。采用改进的垂直布里奇曼法成功生长出外观完整、无裂纹的ZGP单晶体,尺寸达φ15 mm×35 mm。对晶体进行解理实验和X射线衍射分析,发现ZGP晶体易沿(101)面解理,其回摆峰尖锐无劈裂。对未经退火处理的晶片进行红外透过率测试,在2-12μm波段内红外透过率达45%以上。研究结果表明所设计的温场适合于ZGP单晶生长,生长出的ZGP晶体完整性好、质量较高。
孙永强赵北君朱世富赵欣杨慧光程江张羽陈宝军何知宇
关键词:晶体生长红外透过率X射线衍射
通过退火研究ZnGeP_2晶体中点缺陷与红外透过率的关系被引量:2
2008年
以富P2‰配比合成的ZnGeP2多晶为原料,用改进的Bridgman法生长出外观完整的单晶体。霍尔效应和I-V曲线表明,生长的ZnGeP2晶体属于p型半导体,电阻率为7.5×106Ω.cm。经定向切割后,得到10mm×10mm×2mm的ZnGeP2晶片,分别置于高纯红磷和ZnGeP2同成分粉末的氛围,在550℃进行退火处理。结果表明,P气氛中退火,晶片红外透过率的提高不明显;而在ZnGeP2粉末包裹氛围中退火,晶片的红外透过率在短波范围内得到了有效提高,在2~10μm波段则提高到近60%左右,说明VZ-n对该条件下生长的ZnGeP2单晶红外透过率影响较大,而V0P的影响较小。
程江朱世富赵北君赵欣陈宝军何知宇杨慧光孙永强张羽
关键词:点缺陷退火红外透过率
磷锗锌单晶体的腐蚀研究被引量:3
2010年
报道了一种新的ZnGeP2晶体择优腐蚀剂及其腐蚀工艺,即先采用研磨、物理机械抛光和HCl+HNO3热化学抛光获得表面平整无划痕的ZnGeP2晶片,然后将晶片在室温下采用HF(40%)∶HNO3(65%)∶CH3COOH(99.5%)∶H2O∶I2=2 mL∶2 mL∶1 mL∶1 mL∶4 mg腐蚀剂超声振荡腐蚀8 min;在扫描电镜下观察到ZGP(110)和(204)晶面的腐蚀坑,蚀坑形貌清晰,具有立体感,(110)晶面蚀坑呈四边形,(204)晶面蚀坑呈五边形,取向一致,蚀坑密度(EPD)约为104/cm2。从理论上对蚀坑形貌的形成机理进行了分析。
张羽赵北君朱世富陈宝军何知宇孙永强程江梁栋程
关键词:化学腐蚀
通过退火研究ZnGeP2晶体中点缺陷与红外透过率的关系
以富P2‰配比合成的ZnGeP2多晶为原料,用改进的Bridgman法生长出外观完整的单晶体。霍尔效应和Ⅰ-Ⅴ曲线表明,生长的ZnGeP2晶体属于p型半导体,电阻率为7.5×106Ω·cm。经定向切割后,得到10 mm×...
程江朱世富赵北君赵欣陈宝军何知宇杨慧光孙永强张羽
关键词:点缺陷退火红外透过率
文献传递
共1页<1>
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