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文献类型

  • 8篇期刊文章
  • 4篇专利

领域

  • 4篇电子电信
  • 2篇化学工程
  • 2篇金属学及工艺
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 5篇陶瓷
  • 3篇钛酸铅
  • 3篇铌镁酸铅
  • 3篇介电
  • 3篇硅化物
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  • 2篇电容
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  • 2篇陶瓷材料
  • 2篇陶瓷电容
  • 2篇陶瓷电容器
  • 2篇堇青石
  • 2篇纳米
  • 2篇纳米级
  • 2篇介电陶瓷

机构

  • 12篇北京科技大学

作者

  • 12篇肖治纲
  • 6篇杜国维
  • 5篇张灶利
  • 5篇纪箴
  • 4篇王燕斌
  • 3篇余宗森
  • 3篇马肇曾
  • 2篇刘秀清
  • 2篇张昭瑞
  • 1篇柯俊
  • 1篇袁之良
  • 1篇陈伟
  • 1篇裘宝琴
  • 1篇翟启华

传媒

  • 2篇北京科技大学...
  • 2篇Journa...
  • 2篇金属学报
  • 1篇物理学报
  • 1篇材料研究学报

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2008
  • 1篇2004
  • 1篇2002
  • 1篇1999
  • 1篇1996
  • 3篇1995
  • 1篇1994
  • 1篇1993
  • 1篇1989
12 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
Co薄膜中CoSi化合物相转变过程观察
1995年
Si衬底上生长的Co薄膜,经250,450,500℃退火后.用电子显微镜对Co/Si界面处CoSi化合物的相转变进行了观察结果发现CoSi为多晶颗粒.
张灶利肖治纲杜国维
关键词:集成电路电子显微镜
Si衬底上Co薄膜氧化观察
1994年
用透射电子显微镜和X射线衍射方法研究Si衬底上的Co薄膜氧化.发现:在550℃以下,薄膜氧化产物是CoO;在900℃再次进行真空热处理,CoO能转变为硅化物.薄膜氧化,对Co/Si界面硅化物转变有影响.
张灶利肖治纲杜国维
一种低温共烧堇青石系玻璃-陶瓷基板粉料及其制备方法
本发明公开了一种低温共烧MgO-Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>-SiO<Sub>2</Sub>系玻璃-陶瓷基板粉料及其制备方法,是在堇青石2MgO·2Al<Sub>2</Sub>O<Sub>3</...
纪箴张昭瑞王燕斌肖治纲
文献传递
Co-Si界面低温(≤450℃)相变的电子显微术研究被引量:2
1995年
本文用透射电镜的衍射方法,研究Co薄膜和衬底之间的界面的低温相变.用小角解理方法制备的室温原始样品经分析发现:室温下薄膜没有相变.在250℃,Co2Si为最先形成的硅化物;250℃30分钟处理后,产生大量的CoSi相.450℃1小时处理形成单相的CoSi.从本实验结果与前人研究结果对比发现:观察手段、样品制备方法、镀膜方法等因素会影响低温相变结果.
张灶利肖治纲杜国维
关键词:硅化物薄膜相变电子显微术
一种纳米级多层陶瓷电容器介电材料的制备方法
一种纳米级多层陶瓷电容器介电材料的制备方法,属于电子陶瓷材料的制备,特别涉及一种铅系陶瓷粉料的制备。本方法是针对铌镁酸铅-钛酸铅粉料颗粒过大,烧结温度过高,电极成本过高和铅的挥发等问题采用湿化学中的共沉淀方法,在较低的温...
纪箴肖治纲刘秀清王燕斌余宗森马肇曾
文献传递
一种纳米级多层陶瓷电容器介电材料的制备方法
一种纳米级多层陶瓷电容器介电材料的制备方法,属于电子陶瓷材料的制备,特别涉及一种铅系陶瓷粉料的制备。本方法是针对铌镁酸铅-钛酸铅粉料颗粒过大,烧结温度过高,电极成本过高和铅的挥发等问题采用湿化学中的共沉淀方法,在较低的温...
纪箴肖治纲刘秀清王燕斌余宗森马肇曾
文献传递
Co薄膜的稳定性和室温相观察被引量:1
1999年
用电镜对 Si (001) 基体上的 Co 薄膜的室温相和稳定性进行了观察, 高分辨像和小角解理的电子衍射结果均表明: 室温下, Co 薄膜不发生反应, 室温相为α Co, 没有硅化物形成. Co 薄膜在经过300 ℃2h 退火后, 薄膜发生部分凝聚现象, 凝聚团由硅化物组成. 300 ℃退火后薄膜由 Co2 Si 和 Co Si
张灶利郭红霞肖治纲余宗森王桂兰
关键词:稳定性
稀土铁铬铝合金的高温氧化TEM研究被引量:1
1993年
通过透射电镜对Fe-25%Cr-6%Al-RE(富镧)合金氧化行为进行研究.结果表明:经1200℃恒温2h纯氧中氧化,合金中镧以六方La_2O_3微小颗粒沉淀在氧化膜中α—Al_2O_3晶粒的顶端及晶界上。它们阻碍铝向表面扩散,抑制氧化膜的侧向生长;在1200℃/室温之间热循环氧化历程.稀土组元加快了合金的内氧化。它们以氧化铝、氧化镧形式出现,在靠近氧化膜/金属界面,立方La_2O_3颗粒平行于晶界并在合金基体上沉积。
杜国维袁之良肖治纲
关键词:高温氧化氧化镧铁铬铝合金TEM
共沉淀法合成铌镁酸铅──钛酸铅介电陶瓷粉末被引量:3
1995年
通过共沉淀法合成铌镁酸铅-钛酸铅介电陶瓷粉末,经800℃焙烧后,X射线衍射研究表明几乎为单一钙钛矿相;经1000℃烧结的陶瓷片其密度达到理论值的96.77%,20℃介电常数可达20940。
陈伟杜国维马肇曾肖治纲裘宝琴
关键词:共沉淀铌镁酸铅钛酸铅陶瓷
Co/Si和Co/SiO_2界面反应的观察被引量:1
1996年
本文用X射线衍射(XRD)和高分辨电镜研究Co薄膜在氩气气氛或真空条件下热处理时Co/Si和Co/SiO2体系的界面反应.结果表明:在氩气氛下450℃处理时,Co薄膜均发生氧化,在Co/Si界面同时有硅化物形成,而在Co/SiO2界面,无硅化物产生.在真空条件下500℃处理1小时,薄膜没有氧化,在Co/Si界面形成完整的CoSi2外延层.
张灶利翟启华纪箴肖治纲杜国维
关键词:硅化物薄膜
共2页<12>
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