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文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 2篇色度
  • 2篇数据点
  • 2篇图像
  • 2篇自动转换
  • 2篇椭球
  • 2篇像素
  • 2篇计算机
  • 2篇计算机显示
  • 2篇光谱
  • 2篇光谱强度
  • 2篇光谱图像
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体器件
  • 2篇参数测试
  • 1篇显示屏
  • 1篇像素点
  • 1篇内点

机构

  • 4篇河北工业大学

作者

  • 4篇孙梅
  • 4篇赵红东
  • 4篇张魁
  • 2篇沈虹
  • 2篇刘琦
  • 2篇李志勇
  • 2篇杨磊
  • 2篇郭艳菊
  • 2篇王洛欣
  • 2篇康志龙

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2014
  • 1篇2012
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
一种光谱转换为色度的方法
本发明的技术方案涉及光谱领域,具体地说是一种光谱转换为色度的方法,步骤是:光谱图像的采集和数字化处理;计算机进行光谱图像的预处理;计算机对光谱图像中的横、纵坐标和光谱曲线加以识别,并从光谱图像中提取光谱数据;计算机显示光...
赵红东孙梅刘琦沈虹康志龙郭艳菊张魁
文献传递
批量半导体器件参数测试重合数据点的显示方法
本发明批量半导体器件参数测试重合数据点的显示方法,涉及半导体器件的测试,步骤是:第一步,建立批量半导体器件参数测试的坐标;第二步,建立二维参数显示空间;第三步,建立三维参数显示空间;第四步,显示批量半导体器件参数测试中重...
赵红东张魁孙梅杨磊李志勇王洛欣
一种光谱转换为色度的方法
本发明的技术方案涉及光谱领域,具体地说是一种光谱转换为色度的方法,步骤是:光谱图像的采集和数字化处理;计算机进行光谱图像的预处理;计算机对光谱图像中的横、纵坐标和光谱曲线加以识别,并从光谱图像中提取光谱数据;计算机显示光...
赵红东孙梅刘琦沈虹康志龙郭艳菊张魁
文献传递
批量半导体器件参数测试重合数据点的显示方法
本发明批量半导体器件参数测试重合数据点的显示方法,涉及半导体器件的测试,步骤是,第一步,建立批量半导体器件参数测试的坐标;第二步,建立二维参数显示空间;第三步,建立三维参数显示空间;第四步,显示批量半导体器件参数测试中重...
赵红东张魁孙梅杨磊李志勇王洛欣
文献传递
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