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韦园园

作品数:3 被引量:0H指数:0
供职机构:复旦大学更多>>

文献类型

  • 3篇中文专利

主题

  • 2篇时钟
  • 2篇时钟信号
  • 2篇数据采集
  • 2篇数据采集方法
  • 2篇同源
  • 2篇芯片
  • 1篇芯片测试
  • 1篇量产
  • 1篇模数变换
  • 1篇模数变换器
  • 1篇集成芯片
  • 1篇高速高分辨率
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体测试
  • 1篇编程
  • 1篇编程控制
  • 1篇采样
  • 1篇程控制

机构

  • 3篇复旦大学

作者

  • 3篇肖鹏程
  • 3篇韦园园
  • 3篇陆振海

年份

  • 1篇2016
  • 2篇2014
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种基于非同源时钟的ADC芯片测试及数据采集方法
本发明属集成电路测试领域,涉及一种ADC集成芯片采样时钟与测试数据采集时钟为非同原时钟的测试及数据采集方法,本方法对被测ADC芯片的输出数据信号采集同时对被测ADC芯片采样时钟信号采集,将采集速度提高到采样时钟的N倍,根...
肖鹏程陆振海韦园园
文献传递
一种模数变换器集成芯片量产测试方法
本发明属半导体测试领域,涉及一种模数变换器集成芯片量产测试方法;所述测试方法分别采用高性能晶振为被测高速高分辨率模数变换器芯片提供低抖动的采用时钟和低噪底的正弦波测试输入信号,其中正弦波测试输入信号通过对晶振输出信号进行...
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一种基于非同源时钟的ADC芯片测试及数据采集方法
本发明属集成电路测试领域,涉及一种ADC集成芯片采样时钟与测试数据采集时钟为非同原时钟的测试及数据采集方法,本方法对被测ADC芯片的输出数据信号采集同时对被测ADC芯片采样时钟信号采集,将采集速度提高到采样时钟的N倍,根...
肖鹏程陆振海韦园园
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共1页<1>
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