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文献类型

  • 3篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇时钟
  • 2篇时钟信号
  • 2篇数据采集
  • 2篇数据采集方法
  • 2篇同源
  • 2篇芯片
  • 2篇高速高分辨率
  • 1篇转换器
  • 1篇自动测试设备
  • 1篇芯片测试
  • 1篇量产
  • 1篇模数变换
  • 1篇模数变换器
  • 1篇集成芯片
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体测试
  • 1篇编程
  • 1篇编程控制
  • 1篇A/D
  • 1篇A/D转换

机构

  • 4篇复旦大学

作者

  • 4篇肖鹏程
  • 4篇陆振海
  • 3篇韦园园
  • 1篇牛林业
  • 1篇高亮

传媒

  • 1篇微电子学

年份

  • 1篇2016
  • 2篇2014
  • 1篇2011
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
一种基于非同源时钟的ADC芯片测试及数据采集方法
本发明属集成电路测试领域,涉及一种ADC集成芯片采样时钟与测试数据采集时钟为非同原时钟的测试及数据采集方法,本方法对被测ADC芯片的输出数据信号采集同时对被测ADC芯片采样时钟信号采集,将采集速度提高到采样时钟的N倍,根...
肖鹏程陆振海韦园园
文献传递
一种模数变换器集成芯片量产测试方法
本发明属半导体测试领域,涉及一种模数变换器集成芯片量产测试方法;所述测试方法分别采用高性能晶振为被测高速高分辨率模数变换器芯片提供低抖动的采用时钟和低噪底的正弦波测试输入信号,其中正弦波测试输入信号通过对晶振输出信号进行...
肖鹏程陆振海韦园园
文献传递
基于93000 ATE的高速高分辨率ADC动态参数测试被引量:2
2011年
基于Verigy 93000 ATE,采用外挂高性能晶振和射频信号源的测试方案,实现了11位分辨率AD80141最高400 MHz输入信号的测试。结果表明,输入信号为140 MHz以下时,SNR测试值与目标值相差不到1 dB;输入信号为300 MHz、400 MHz时,SNR测试值分别达到59.46dB和57.03 dB。
肖鹏程牛林业高亮陆振海
关键词:自动测试设备A/D转换器
一种基于非同源时钟的ADC芯片测试及数据采集方法
本发明属集成电路测试领域,涉及一种ADC集成芯片采样时钟与测试数据采集时钟为非同原时钟的测试及数据采集方法,本方法对被测ADC芯片的输出数据信号采集同时对被测ADC芯片采样时钟信号采集,将采集速度提高到采样时钟的N倍,根...
肖鹏程陆振海韦园园
文献传递
共1页<1>
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